[发明专利]一种星载合成孔径雷达地距分辨率表征与参数设计方法有效
| 申请号： | 201410532624.8 | 申请日： | 2014-10-10 |
| 公开（公告）号： | CN104597446B | 公开（公告）日： | 2017-02-15 |
| 发明（设计）人： | 丁泽刚;曾涛;尹伟;龙腾;朱宇;任晶晶 | 申请（专利权）人： | 北京理工大学 |
| 主分类号： | G01S13/90 | 分类号： | G01S13/90 |
| 代理公司： | 北京理工大学专利中心11120 | 代理人： | 李爱英,仇蕾安 |
| 地址： | 100081 *** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明提供了一种星载合成孔径雷达地距分辨率表征与参数设计方法，该方法根据雷达所要达到的分辨率l，利用所获取的星载合成孔径雷达的长轴地距分辨率ρl和短轴地距分辨率ρs的表征可设计出合成孔径时间与发射信号带宽，然后调整雷达相关参量，使得调整后的雷达分辨率小于或等于l。该方法克服了传统理论中采用方位向与距离向地距分辨率表征地距分辨率的缺陷,能够更全面反应SAR的地距分辨率能力，使得地距平面各个方向的分辨率均满足系统指标需求。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 合成孔径雷达 分辨率 表征 参数 设计 方法 | ||
【主权项】：
一种星载合成孔径雷达地距分辨率表征与参数设计方法，其特征在于，包括如下步骤：步骤一、获取星载合成孔径雷达的长轴地距分辨率ρl和短轴地距分辨率ρs的表征；ρl=22[(m+n)-(m-n)2+4p2]1/2ρs=22[(m+n)+(m-n)2+4p2]1/2]]>其中，参数m、n与p可以表示为：m=k12(ρr/2)2+k22(ρa/2)2n=k32(ρa/2)2p=k2k3(ρa/2)2]]>k1=sin(β+δ)k2=cos(β+δ)·(cosαcosβcosφ-sinαsinβ)sinθk3=cosαsinφsinθ]]>式中，ρr为斜距平面距离向分辨率，ρa为斜距平面方位向分辨率，β为下视角，α为俯冲角，φ为方位角，δ为地心角，θ为斜视角；步骤二、利用所述长轴地距分辨率ρl和短轴地距分辨率ρs的表征，根据雷达所要达到的分辨率l，调整雷达相关参量，使得调整后的雷达分辨率小于或等于l。
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