[发明专利]一种大量程折射率测量的方法在审

专利信息
申请号: 201410543273.0 申请日: 2014-10-01
公开(公告)号: CN105891152A 公开(公告)日: 2016-08-24
发明(设计)人: 开盛;曹庄琪;沈益翰 申请(专利权)人: 上海光刻电子科技有限公司
主分类号: G01N21/41 分类号: G01N21/41
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 200233 上海*** 国省代码: 上海;31
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摘要: 大量程折射率测量方法属于物理测量领域。与传统的采用全反射原理、最小偏向角和迈克耳逊干涉仪的测量方法不同,该仪器利用一种棱镜耦合对称金属包覆波导共振结构。待测样品不是处于倏逝场区,而是处于振荡场区域‑波导芯层。这种安排扩展了样品折射率的测量范围、有效地提高了测量灵敏度。本发明具有以下优点:(1)用金属膜作为波导的上下包覆层,样品为导波层,折射率测量范围不受限制;(2)样品可以是液体,也可以是气体;(3)波导空芯腔厚度是几十微米尺度,既能采用小角度入射光激发高灵敏度的高阶导模,又能通过大角度入射激发表面等离子模,可精确确定样品折射率的绝对值;(4)由于采用高灵敏度的高阶导模为探针,测量精度可达0.00001。
搜索关键词: 一种 量程 折射率 测量 方法
【主权项】:
一种大量程折射率测量的方法,利用对称金属包覆波导有效折射率可接近于零的特征,待测样品作为波导芯层,激发的多个高阶导模,实现对气体和液体折射率的大量程的测量(测量范围达1.0<n<2.0);该结构由两部分组成:棱镜耦合空芯金属包覆波导A和光电发射与信号探测模块B; 1)棱镜耦合空芯金属包覆波导A由玻璃棱镜1、上层金属膜2、二氧化硅保护层3、玻璃垫圈4、下层金属膜5、玻璃岛6、玻璃衬底7、进样通道8和出样通道9等部件组成。其特征为: (1)上层金属膜2沉积在玻璃棱镜1的底面,二氧化硅保护层3沉积在上层金属膜2的底面,下层金属膜5沉积在玻璃岛6上,玻璃岛6的厚度小于玻璃垫圈4; (2)为保证导波腔的平行度,首先,玻璃垫圈4和玻璃岛6要求有较高的平行度;其次,玻璃棱镜1、玻璃垫圈4、玻璃岛6和玻璃衬底7必须用光胶技术组装在一起。二氧化硅保护层3与下层金属膜5之间形成约20微米的空腔即为样品池,二氧化硅保护层与样品构成空芯金属包覆波导的导波层; (3)玻璃衬底7上开两个通孔,分别是空芯金属包覆波导A的进样通道8和出样通道9,待测样品通过进样通道8进入样品池,而废弃样品通过出样通道9排出; 2)光电发射与信号探测模块B由激光器10、偏振镜11、会聚透镜12、接收透镜13和CCD成像元件14等部件组成,其特征为: (4)激光器10发射的平行光经过偏振镜11后,成为TM偏振光,再经过会聚透镜12后以一定角度聚焦于玻璃棱镜1底面; (5)反射光经接收透镜13投影到CCD成像元件14,因反射光具有预先设定的角宽度,通常包含三个以上导模的衰减全反射吸收峰(在CCD上为三条黑线),测定黑线的角位置,便可根据反射率公式确定样品的折射率。 
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