[发明专利]多功能地物样品光谱全向测量系统无效

专利信息
申请号: 201410546684.5 申请日: 2014-10-16
公开(公告)号: CN104316468A 公开(公告)日: 2015-01-28
发明(设计)人: 唐义;朱庆炜;崔璐;张学斌;南一冰 申请(专利权)人: 北京理工大学
主分类号: G01N21/25 分类号: G01N21/25
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 100081 北京市*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 本发明公开一种用于地物样品光谱测量的多功能全向测量系统。该系统包括宽光谱太阳模拟光源,地物光谱仪,电源系统,地物样品自转装置以及探测器公转装置,可在室内野外、有源无源的情况下工作,实现多功能全向测量。本专利所述的用于地物样品光谱测量的多功能全向测量系统主要用于固体地物样品光谱测量,用宽光谱太阳模拟光源模拟太阳光照射地物样品表面,通过地物样品自转装置和探测器公转装置控制地物样品与入射光束以及探测器与地物样品的相对位置,达到探测器接收地物样品表面反射光的目的,从而得出地物样品光谱信息。此外,该系统也可对其他物体进行光谱测量或者作为多维自由度电控平台使用等。
搜索关键词: 多功能 地物 样品 光谱 全向 测量 系统
【主权项】:
一种用于光谱测量的多功能地物样品光谱全向测量系统,包括宽光谱太阳模拟光源,地物光谱仪,电源系统,地物样品自转装置,探测器公转装置以及远程控制系统,其特征在于既可室内也可室外进行多自由度控制的光谱测量。
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