[发明专利]基于重掺杂4H-SiC衬底的高温压力传感器工艺有效
申请号: | 201410550475.8 | 申请日: | 2014-10-16 |
公开(公告)号: | CN104330195A | 公开(公告)日: | 2015-02-04 |
发明(设计)人: | 赵高杰;刘益宏;孙玉俊;廖黎明;陈之战 | 申请(专利权)人: | 上海师范大学 |
主分类号: | G01L1/18 | 分类号: | G01L1/18;H01L27/20 |
代理公司: | 上海申新律师事务所 31272 | 代理人: | 周云 |
地址: | 200234 *** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | 本发明基于重掺杂4H-SiC衬底的高温压力传感器工艺,尤其涉及一种耐高温高压、敏感度高、输出信号稳定的新型宽禁带半导体电子器件的制造方法,属于宽禁带半导体器件制备技术领域。本发明包括:准备重掺杂4H-SiC衬底;制备压阻条;制备种子层;制备掩膜层;制备感应膜片;制备SiO2扩散阻挡层;制备接触窗口;制备AlN绝缘层;制备电极;制备欧姆接触;制备保护层和引线层等步骤。本发明不用使用CVD等设备外延高掺杂浓度的p型和n型SiC外延层,减少了半导体工艺流程,提高成品率,降低生产成本。本发明制备的碳化硅高温压力传感器,能够满足高温、高压、高辐射等恶劣环境下对传感器的苛刻要求。 | ||
搜索关键词: | 基于 掺杂 sic 衬底 高温 压力传感器 工艺 | ||
【主权项】:
一种基于重掺杂4H‑SiC衬底的高温压力传感器工艺,尤其是n型重掺杂4H‑SiC衬底,其特征在于,包括如下步骤:步骤1准备4H‑SiC衬底;步骤2制备压阻条;步骤3制备种子层;步骤4制备掩膜层;步骤5制备感应膜片;步骤6制备SiO2扩散阻挡层;步骤7制备接触窗口;步骤8制备AlN绝缘层;步骤9制备电极;步骤10制备欧姆接触;步骤11制备保护层和引线层。
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