[发明专利]超高速光采样时钟的多通道失配测量方法及测量补偿装置

摘要

本发明涉及一种超高速时间‑波长交织光脉冲序列通道失配测量和补偿方法，包括待测超高速时间‑波长交织光脉冲产生模块，光频谱测量模块，电频谱测量模块以及数据分析与处理模块。本发明通过对超高速时间‑波长交织光脉冲序列的频域测量与分析，得到了各个通道脉冲序列的失配信息，克服了通过示波器进行时域观测方法中采样率不足的瓶颈。本发明得到的通道失配信息可进一步作为超高速时间‑波长交织光脉冲序列通道失配补偿和校正的依据。

主权项

一种超高速光采样时钟的多通道失配测量方法，其特征在于，该方法包括如下步骤：步骤1、利用1×2光纤耦合器(2)将待测多通道光脉冲信号序列分为2路，一路多通道光脉冲信号序列输入至光谱分析仪(3‑1)，另一路将多通道光脉冲信号序列通过光电探测器(4‑1)输入至电频谱分析仪(4‑2)，所述的光谱分析仪(3‑1)和电频谱分析仪(4‑2)将输入信号的测量结果分别输出至数据分析与处理模块(5)；步骤2、计算各通道中的幅值ak，k＝1,2,…,M，M为通道总数，公式如下：ak=|∫-∞+∞Ek(f)df|2---(17)]]>其中，Ek(f)为第k通道中光谱分析仪测得的光频谱；计算各通道中的其为uk(t)的傅里叶变换，uk(t)为第k通道中脉冲的归一化波形，f为频谱，t为时间，公式如下：u~k(f)=|Ek(f)|2max{|Ek(f)|2}---(18)]]>步骤3、计算延时误差τk，公式如下：10log10PM(τ1,τ2,...,τM)Pk(τ1,τ2,...,τM)=CM-Ck,k=1,2,...,Mτ1=0---(19)]]>其中Ck为电频谱分析仪测得的M个频谱峰值，k＝1,2,…,M，Pk为射频谱在[0,fs]区间上M个峰值：Pk=(RPDMTs)2|Σl=1Malu~l(kfs/M)e-j2π(kfs/M)τle-j2πk(l-1)/M|2,k=1,2,...,M---(20)]]>其中，M为通道总数，Ts为采样周期，fs＝1/Ts，RPD为光电探测器的响应度。