[发明专利]一种扫查式激光超声检测方法及其系统在审

专利信息
申请号: 201410568182.2 申请日: 2014-10-22
公开(公告)号: CN104345092A 公开(公告)日: 2015-02-11
发明(设计)人: 王海涛;曾伟;杨先明;郭瑞鹏;胡国星 申请(专利权)人: 南京航空航天大学
主分类号: G01N29/06 分类号: G01N29/06
代理公司: 南京经纬专利商标代理有限公司 32200 代理人: 许方
地址: 210016 江*** 国省代码: 江苏;32
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摘要: 发明公开了一种扫查式激光超声检测方法及其系统,其方法步骤为:通过上位机软件控制激光器产生脉冲激光束;振镜扫描装置对被测材料进行水平X-Y轴方向二维扫查;利用在试块对心的纵波传感器接收产生的纵波信号;接收的纵波信号经放大后,由数字A/D采集卡采集产生的纵波信号,上位机软件对采集的超声波信号进行带通滤波;利用计算机控制电路系统控制扫查动镜系统对材料表面进行二维扫查成像,根据材料表面是否有表面裂纹缺陷的纵波一次峰值信号到达传感器的时间不同,可以迅速对二维扫查接收的纵波信号进行光声成像,实现对检测材料缺陷的快速定量成像检测。本发明计算机处理数据量小,可直接从纵波传播图像中对材料缺陷进行定量检测。
搜索关键词: 一种 扫查式 激光 超声 检测 方法 及其 系统
【主权项】:
一种扫查式激光超声检测方法,其特征在于,包括以下步骤:(1)通过上位机软件控制激光器产生脉冲激光束,射入振镜扫描装置;所述的振镜扫描装置根据上位机软件设计好的扫描路线对被测对象进行水平X‑Y轴方向二维扫查;(2)同时在激光扫描区域的另一侧安装一个纵波传感器,纵波传感器接收激光束在材料中产生的纵波信号;开启信号放大器、数据采集卡和计算机的上位机采集软件,同时设置采集的采样率、以及上位机带通滤波器的参数;(3)通过上位机软件控制振镜扫描装置,以便控制扫查系统中X‑Y中的两轴聚焦透镜的位置,改变激光束在材料中的激发位置,实现对材料的水平X‑Y轴方向进行二维扫查检测缺陷;当激光束扫查到无表面缺陷的材料位置处时,纵波传感器接收到的纵波信号的一次纵波峰值时间将提前,从而将这种信号输送到上位机软件进行数据处理分析、记录和后期成像处理;(4)信号采集器将接收到的纵波信号传送到计算机中,计算机将采集到的纵波信号存储于(X,Y,t)矩阵中,得到纵波在检测材料中的传播图像;根据纵波信号在有缺陷的位置处一次纵波峰值到达时间,确定纵波在材料中传播到缺陷时的图像,对材料中的缺陷进行图像化检测。
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