[发明专利]一种用于测量涡旋光束的周期渐变光栅及测量方法有效
| 申请号： | 201410573218.6 | 申请日： | 2014-10-23 |
| 公开（公告）号： | CN104330174A | 公开（公告）日： | 2015-02-04 |
| 发明（设计）人： | 高春清;戴坤健;钟雷;王庆 | 申请（专利权）人： | 北京理工大学 |
| 主分类号： | G01J11/00 | 分类号： | G01J11/00 |
| 代理公司： | 北京理工大学专利中心 11120 | 代理人： | 李微微;仇蕾安 |
| 地址： | 100081 *** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种利用周期渐变光栅测量涡旋光束的方法，从周期渐变光栅透射的一级衍射光斑的节线条数即为涡旋光束的轨道角动量态的阶数，节线的方向表征涡旋光束的轨道角动量态的正负：当所述光栅的周期渐变因子为正，一级衍射光斑中左侧的光斑的节线方向与光栅对称轴方向一致时，待测的涡旋光束的轨道角动量态的阶数为正；该方法可测量任意阶数轨道角动量态的涡旋光束，相比于现有技术具有较大的进步；同时，当入射涡旋光束方向偏离光栅中心时，虽然衍射图样的一级衍射光斑的位置会围绕零级衍射光斑发生相应的旋转，但生成的衍射图样并不影响轨道角动量态的阶数的测量，因此，周期渐变光栅对光学系统的准直性要求降低了，易于光路的调整。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 用于 测量 涡旋 光束 周期 渐变 光栅 测量方法 | ||
【主权项】：
一种利用周期渐变光栅测量涡旋光束的方法，其特征在于，采用待测涡旋光束照射所述周期渐变光栅，从光栅透射的一级衍射光斑的节线条数即为涡旋光束的轨道角动量态的阶数，节线的方向表征涡旋光束的轨道角动量态的正负：当所述光栅的周期渐变因子为正，一级衍射光斑中左侧的光斑的节线方向与光栅对称轴方向一致时，待测的涡旋光束的轨道角动量态的阶数为正；其中，所述光栅的周期沿一个方向线性渐变。
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