[发明专利]一种近红外光谱分析法在审

专利信息
申请号: 201410575429.3 申请日: 2014-10-25
公开(公告)号: CN104330381A 公开(公告)日: 2015-02-04
发明(设计)人: 郝青 申请(专利权)人: 陕西玉航电子有限公司
主分类号: G01N21/3563 分类号: G01N21/3563;G01N21/359
代理公司: 西安亿诺专利代理有限公司 61220 代理人: 康凯
地址: 710065 陕西省西安市高新*** 国省代码: 陕西;61
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摘要: 发明涉及一种光学分析方法,具体涉及一种近红外光谱分析法。一种近红外光谱分析法,包括以下步骤:筛选建模样品;对上述建模样品进行化学方法测定,作为建模标准值;对上述建模样品进行扫描得到样品光谱;确定最佳建模模型;验证模型的稳定性以及预测能力,当RPD>3时,模型稳定性和预测性良好;在模型稳定性和预测性良好的情况下,通过模型对样品光谱进行预处理;对经过预处理后的样品光谱采用分析模型加以分析评价,得到待测样品的待测成分含量,测得的待测成分含量其值越接近1,预测含量越接近真值。本发明提出的一种近红外光谱分析法,建立的模型稳定性以及预测性能良好,测得的待测成分含量较高,本方法实用,易于推广。
搜索关键词: 一种 红外 光谱分析
【主权项】:
一种近红外光谱分析法,其特征在于:包括以下步骤:步骤1:筛选建模样品;步骤2:对上述建模样品进行化学方法测定,作为建模标准值;步骤3:对上述建模样品进行扫描得到样品光谱;步骤4:确定最佳建模模型; 步骤5用RPD来验证模型的稳定性以及预测能力,当RPD>3时,模型稳定性和预测性良好;步骤6:在模型稳定性和预测性良好的情况下,通过模型对样品光谱进行预处理;步骤7:对经过预处理理后的样品光谱采用分析模型加以分析评价,得到待测样品的待测成分含量。
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