[发明专利]超低温环境下进行光学应变场测量的试片拉伸试验系统在审
申请号: | 201410575545.5 | 申请日: | 2014-10-24 |
公开(公告)号: | CN105588767A | 公开(公告)日: | 2016-05-18 |
发明(设计)人: | 吴兵;杨蓉;周江帆;王鸿博;郭冰;倪径达;张凯;张健;王涛 | 申请(专利权)人: | 北京强度环境研究所;中国运载火箭技术研究院 |
主分类号: | G01N3/18 | 分类号: | G01N3/18 |
代理公司: | 核工业专利中心 11007 | 代理人: | 吕岩甲 |
地址: | 100076 *** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | 本发明属于结构低温静力试验技术领域,具体涉及一种超低温环境下进行光学应变场测量的试片拉伸试验系统。液氮槽固定在承力地轨上,在液氮槽的侧面承力板上连接固定法兰,固定法兰与第一个试片夹头连接,再依次连接拉伸试片和第二个试片夹头,第二个试片夹头与转接工装连接;滑轮支架固支连接在液氮槽的固定承力底板上,定滑轮安装在滑轮支架上;在液氮槽的外部,搭建承力龙门架,龙门架包括承力梁、直立柱、底座;力传感器依次与连接拉杆、作动筒连接形成拉力载荷施加系统,钢丝绳一端与转接工装进行连接,通过定滑轮转向,钢丝绳的另一端与拉力载荷施加系统的力传感器连接;作动筒通过调节板与承力梁连接;液氮槽的上方设置有CCD照相机和LED光源。 | ||
搜索关键词: | 超低温 环境 进行 光学 应变 测量 试片 拉伸 试验 系统 | ||
【主权项】:
一种超低温环境下进行光学应变场测量的试片拉伸试验系统,其特征在于:包括液氮槽(1)、固定法兰(2)、试片夹头(3)、拉伸试片(4)、转接工装(5)、滑轮支架(6)、定滑轮(7)、钢丝绳(8)、力传感器(9)、连接拉杆(10)、作动筒(11)、调节板(12)、承力梁(13)、直立柱(14)、底座(15)、承力地轨(16)、CCD照相机(17)、LED光源(18)、ARAMIS光学测量系统(19)、温度测量系统(20)、电阻应变片测量系统(21)、液压自动协调加载与控制系统(22);液氮槽(1)固定在承力地轨(16)上,在液氮槽(1)的侧面承力板上连接固定法兰(2),固定法兰(2)与第一个试片夹头(3)连接,再依次连接拉伸试片(4)和第二个试片夹头(3),第二个试片夹头(3)与转接工装(5)连接;滑轮支架(6)固支连接在液氮槽(1)的固定承力底板上,定滑轮(7)安装在滑轮支架(6)上;在液氮槽(1)的外部,搭建承力龙门架,龙门架包括承力梁(13)、直立柱(14)、底座(15);力传感器(9)依次与连接拉杆(10)、作动筒(11)连接形成拉力载荷施加系统,钢丝绳(8)一端与转接工装(5)进行连接,通过定滑轮(7)转向,钢丝绳(8)的另一端与拉力载荷施加系统的力传感器(9)连接;作动筒(11)通过调节板(12)与承力梁(13)连接;液氮槽(1)的上方设置有CCD照相机(17)和LED光源(18);在拉伸试片(4)的上表面喷涂黑白相间自喷漆,通过CCD照相机(17)采集的图像数据通过电缆传输到ARAMIS光学测量系统(19);在拉伸试片(4)上粘贴热电偶,通过连接电缆将采集的温度数据传输给温度测量系统(20);在拉伸试片(4)上粘贴电阻应变片,通过连接电缆将采集的应变数据传输给电阻应变片测量系统(21);力传感器(9)、作动筒(11)通过连接电缆接入到液压自动协调加载与控制系统(22),对拉伸试片(4)施加载荷。
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