[发明专利]半导体器件无效
申请号: | 201410575708.X | 申请日: | 2014-10-24 |
公开(公告)号: | CN104576807A | 公开(公告)日: | 2015-04-29 |
发明(设计)人: | 京野孝史;秋田胜史;柴田馨;西塚幸司;藤井慧 | 申请(专利权)人: | 住友电气工业株式会社 |
主分类号: | H01L31/105 | 分类号: | H01L31/105;H01L31/0352;H01L31/0304 |
代理公司: | 中原信达知识产权代理有限责任公司 11219 | 代理人: | 李兰;孙志湧 |
地址: | 日本大阪*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | 本发明涉及一种半导体器件。半导体器件包括其中层叠多个半导体层的半导体层层叠体,半导体层层叠体包括光接收层,光接收层通过金属有机气相外延方法生长,光接收层具有大于或等于3μm且小于或等于8μm的截止波长,在-140℃的温度下施加60mV的反向偏压时,半导体器件具有小于或等于1×10-1A/cm2的暗电流密度。由此,提供可以接收中红外范围内的光并具有低暗电流的半导体器件。 | ||
搜索关键词: | 半导体器件 | ||
【主权项】:
一种半导体器件,所述半导体器件包括半导体层层叠体,所述半导体层层叠体中层叠有多个半导体层,所述半导体层层叠体包括光接收层,所述光接收层通过金属有机气相外延方法生长,所述光接收层具有大于或等于3μm且小于或等于8μm的截止波长,当在‑140℃的温度下施加60mV的反向偏压时,所述半导体器件具有小于或等于1×10‑1A/cm2的暗电流密度。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L31-00 对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射,或微粒辐射敏感的,并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或者专门适用于通过这样的辐射进行电能控制的半导体器件;专门适用于制造或处理这些半导体器件或其部件的方法或
H01L31-02 .零部件
H01L31-0248 .以其半导体本体为特征的
H01L31-04 .用作转换器件的
H01L31-08 .其中的辐射控制通过该器件的电流的,例如光敏电阻器
H01L31-12 .与如在一个共用衬底内或其上形成的,一个或多个电光源,如场致发光光源在结构上相连的,并与其电光源在电气上或光学上相耦合的
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L31-00 对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射,或微粒辐射敏感的,并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或者专门适用于通过这样的辐射进行电能控制的半导体器件;专门适用于制造或处理这些半导体器件或其部件的方法或
H01L31-02 .零部件
H01L31-0248 .以其半导体本体为特征的
H01L31-04 .用作转换器件的
H01L31-08 .其中的辐射控制通过该器件的电流的,例如光敏电阻器
H01L31-12 .与如在一个共用衬底内或其上形成的,一个或多个电光源,如场致发光光源在结构上相连的,并与其电光源在电气上或光学上相耦合的