[发明专利]一种基于CT扫描的深部岩石取样方法在审

专利信息
申请号: 201410579724.6 申请日: 2014-10-24
公开(公告)号: CN104266862A 公开(公告)日: 2015-01-07
发明(设计)人: 严鹏;何艳丽;卢文波;陈明 申请(专利权)人: 武汉大学
主分类号: G01N1/08 分类号: G01N1/08
代理公司: 武汉科皓知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 42222 代理人: 温珊姗
地址: 430072 湖*** 国省代码: 湖北;42
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摘要: 发明公开了一种基于CT扫描的深部岩石取样方法,先用常规取样方法获得大直径的岩芯,确定岩样的损伤程度和范围,再套取其中心无损伤区域作为小直径岩样,可大大减轻取样卸载损伤的影响,获得无损岩样。所取得的无损岩样平均强度、弹性模量等各方面性能得到提高。本发明方法对于解决高应力取样问题十分有效,可被广泛应用于水利水电工程、交通、矿山等领域深埋地下工程。
搜索关键词: 一种 基于 ct 扫描 岩石 取样 方法
【主权项】:
一种基于CT扫描的深部岩石取样方法,其特征在于包括如下步骤:⑴在浅埋深条件下或大块岩石中取得与目标取样地点岩性和地质条件相同的大直径岩样3‑5组,每组5个岩样,利用CT扫描方法获得无损岩样的CT特征曲线;⑵在工程现场选定需要取样的位置,通过高应力常规取样得到初始岩样;对初始岩样进行CT扫描,每个岩样从顶部到底部等距分设5~10个扫描横断面,每个扫描横断面划分为多个同心圆统计圈,获得初始岩样各横断面不同直径同心圆的CT特征曲线;⑶对比、分析步骤⑴和⑵的曲线图,确定岩样的损伤程度和范围;⑷采用套钻方法获得无损伤岩芯。
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