[发明专利]纳米孪晶铜再布线的制备方法有效
申请号: | 201410581802.6 | 申请日: | 2014-10-27 |
公开(公告)号: | CN104392939B | 公开(公告)日: | 2017-09-01 |
发明(设计)人: | 李珩;罗乐;朱春生;叶交托;徐高卫 | 申请(专利权)人: | 中国科学院上海微系统与信息技术研究所 |
主分类号: | H01L21/60 | 分类号: | H01L21/60;H01L23/485 |
代理公司: | 上海光华专利事务所31219 | 代理人: | 李仪萍 |
地址: | 200050 *** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | 本发明提供一种纳米孪晶铜再布线的制备方法,包括步骤1)于基片上制备钝化层,并光刻出用于与芯片极板互联的窗口;2)于钝化层表面及所述互联窗口中形成种子层;3)于种子层表面形成纳米孪晶铜再布线的光刻胶图形,采用脉冲电镀法于裸露的种子层表面制备一层纳米孪晶铜再布线层;4)去除光刻胶图形,并腐蚀掉多余的种子层。本发明采用脉冲电镀辅以快速退火处理,依靠脉冲电镀形成的大内应力驱使铜再结晶,形成高密度纳米孪晶再布线。本发明采用的电流密度低,采用当前设备即可,和现有的IC工艺完全兼容,属于圆片级封装工艺,效率高,成本低。制备的纳米孪晶铜综合力学性能优良,可以大幅缩减再布线尺寸到10um左右,且具有较高的热机械可靠性。 | ||
搜索关键词: | 纳米 孪晶铜再 布线 制备 方法 | ||
【主权项】:
一种纳米孪晶铜再布线的制备方法,其特征在于,所述制备方法包括步骤:1)于基片上制备钝化层,并于所述钝化层中光刻出用于与芯片极板互联的互联窗口;2)于所述钝化层表面及所述互联窗口中形成具有择优取向的种子层;3)于所述种子层表面形成纳米孪晶铜再布线的光刻胶图形,并以所述光刻胶图形为掩膜,采用脉冲电镀法于裸露的种子层表面制备一层纳米孪晶铜再布线层,其中,脉冲电镀法采用的电解液为硫酸铜纯溶液、去离子水及硫酸混合液,其PH为0.5‑1.5,采用的阴极为形成有种子层的基片,采用的脉冲电流密度为7~70mA/cm2,导通时间为1~10ms,关闭时间为90‑200ms;4)去除所述光刻胶图形,并腐蚀掉多余的种子层;其中,还包括对纳米孪晶铜再布线层进行退火的步骤,其中,退火温度为50~350℃。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
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H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
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H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
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