[发明专利]一种高方阻晶体硅电池低压扩散工艺有效

专利信息
申请号: 201410582186.6 申请日: 2014-10-27
公开(公告)号: CN104393107A 公开(公告)日: 2015-03-04
发明(设计)人: 姬常晓;刘文峰;郭进;成文 申请(专利权)人: 中国电子科技集团公司第四十八研究所
主分类号: H01L31/18 分类号: H01L31/18;H01L21/223
代理公司: 长沙正奇专利事务所有限责任公司 43113 代理人: 马强;周栋
地址: 410111 湖南*** 国省代码: 湖南;43
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 发明公布了一种高方阻晶体硅电池低压扩散工艺,为有效提高扩散管产能从而降低单片扩散成本,并且提高量产电池性能均匀性以提高量产电池整体性价比,本发明采用减压扩散工艺,对原有常压扩散工艺进行较大变革。和常压扩散工艺相比,本工艺可有效减小小氮总流量和总时间,能较好的控制扩散掺杂浓度纵向分布,并且可有效提高片内及片间扩散方阻均匀性。本发明的扩散工艺应用于减压扩散炉,该工艺与减压扩散炉匹配性强,适用于产业化生产,可大幅度提高产能,从而大规模应用于晶体硅电池生产线。
搜索关键词: 一种 高方阻 晶体 电池 低压 扩散 工艺
【主权项】:
一种高方阻晶体硅电池低压扩散工艺,所述工艺在扩散炉中实现,其特征在于,所述低压扩散工艺分如下三步进行:(1)关闭放有硅片的扩散炉炉门后,抽气使炉内压强至设定压强并用高温氧化硅片,在硅片表面生成一薄层SiO2;(2)采用两步扩散法制备PN结:第一步低温预扩散,第二步高温扩散;(3)退火,改变扩散炉内部压强除去杂质;步骤(1)至(3)中设定的工艺参数如下:所述步骤(1)设定的工艺参数为:炉内压强为50~100mbar;氧化温度为780~800℃;氧化时间为200~800sec;大氮流量为10000~30000ml/min;氧气流量为500~2000ml/min;所述步骤(2)设定的工艺参数为:第一步低温预扩散工艺参数为:炉内压强为50~100mbar;炉内温度为780~800℃;扩散时间为250~800sec;大氮流量为10000~30000ml/min;小氮流量为600~1000ml/min;氧气流量为500~2000ml/min;第二步高温扩散工艺参数为:炉内压强为50~100mbar;炉内温度为800~830℃;扩散时间为250~800sec;大氮流量为10000~30000ml/min;小氮流量为600~1000ml/min;氧气流量为500~2000ml/min;所述步骤(3)设定的工艺参数为:设定退火温度550~650℃、时间为1000~3000sec;炉内压强从设定的50~100mbar升至1000mbar,再从1000mbar降至设定的50~100mbar,反复改变2~4次,每个压强改变周期在400sec以内。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中国电子科技集团公司第四十八研究所,未经中国电子科技集团公司第四十八研究所许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201410582186.6/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top