[发明专利]一种高方阻晶体硅电池低压扩散工艺有效
申请号: | 201410582186.6 | 申请日: | 2014-10-27 |
公开(公告)号: | CN104393107A | 公开(公告)日: | 2015-03-04 |
发明(设计)人: | 姬常晓;刘文峰;郭进;成文 | 申请(专利权)人: | 中国电子科技集团公司第四十八研究所 |
主分类号: | H01L31/18 | 分类号: | H01L31/18;H01L21/223 |
代理公司: | 长沙正奇专利事务所有限责任公司 43113 | 代理人: | 马强;周栋 |
地址: | 410111 湖南*** | 国省代码: | 湖南;43 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本发明公布了一种高方阻晶体硅电池低压扩散工艺,为有效提高扩散管产能从而降低单片扩散成本,并且提高量产电池性能均匀性以提高量产电池整体性价比,本发明采用减压扩散工艺,对原有常压扩散工艺进行较大变革。和常压扩散工艺相比,本工艺可有效减小小氮总流量和总时间,能较好的控制扩散掺杂浓度纵向分布,并且可有效提高片内及片间扩散方阻均匀性。本发明的扩散工艺应用于减压扩散炉,该工艺与减压扩散炉匹配性强,适用于产业化生产,可大幅度提高产能,从而大规模应用于晶体硅电池生产线。 | ||
搜索关键词: | 一种 高方阻 晶体 电池 低压 扩散 工艺 | ||
【主权项】:
一种高方阻晶体硅电池低压扩散工艺,所述工艺在扩散炉中实现,其特征在于,所述低压扩散工艺分如下三步进行:(1)关闭放有硅片的扩散炉炉门后,抽气使炉内压强至设定压强并用高温氧化硅片,在硅片表面生成一薄层SiO2;(2)采用两步扩散法制备PN结:第一步低温预扩散,第二步高温扩散;(3)退火,改变扩散炉内部压强除去杂质;步骤(1)至(3)中设定的工艺参数如下:所述步骤(1)设定的工艺参数为:炉内压强为50~100mbar;氧化温度为780~800℃;氧化时间为200~800sec;大氮流量为10000~30000ml/min;氧气流量为500~2000ml/min;所述步骤(2)设定的工艺参数为:第一步低温预扩散工艺参数为:炉内压强为50~100mbar;炉内温度为780~800℃;扩散时间为250~800sec;大氮流量为10000~30000ml/min;小氮流量为600~1000ml/min;氧气流量为500~2000ml/min;第二步高温扩散工艺参数为:炉内压强为50~100mbar;炉内温度为800~830℃;扩散时间为250~800sec;大氮流量为10000~30000ml/min;小氮流量为600~1000ml/min;氧气流量为500~2000ml/min;所述步骤(3)设定的工艺参数为:设定退火温度550~650℃、时间为1000~3000sec;炉内压强从设定的50~100mbar升至1000mbar,再从1000mbar降至设定的50~100mbar,反复改变2~4次,每个压强改变周期在400sec以内。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中国电子科技集团公司第四十八研究所,未经中国电子科技集团公司第四十八研究所许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201410582186.6/,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 同类专利
- 专利分类
H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L31-00 对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射,或微粒辐射敏感的,并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或者专门适用于通过这样的辐射进行电能控制的半导体器件;专门适用于制造或处理这些半导体器件或其部件的方法或
H01L31-02 .零部件
H01L31-0248 .以其半导体本体为特征的
H01L31-04 .用作转换器件的
H01L31-08 .其中的辐射控制通过该器件的电流的,例如光敏电阻器
H01L31-12 .与如在一个共用衬底内或其上形成的,一个或多个电光源,如场致发光光源在结构上相连的,并与其电光源在电气上或光学上相耦合的
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L31-00 对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射,或微粒辐射敏感的,并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或者专门适用于通过这样的辐射进行电能控制的半导体器件;专门适用于制造或处理这些半导体器件或其部件的方法或
H01L31-02 .零部件
H01L31-0248 .以其半导体本体为特征的
H01L31-04 .用作转换器件的
H01L31-08 .其中的辐射控制通过该器件的电流的,例如光敏电阻器
H01L31-12 .与如在一个共用衬底内或其上形成的,一个或多个电光源,如场致发光光源在结构上相连的,并与其电光源在电气上或光学上相耦合的