[发明专利]一种缺陷数据分析方法及利用其缩减软件测试项目的方法

摘要

本发明提供了一种缺陷数据分析方法及利用其缩减软件测试项目的方法。本发明的缺陷数据分析方法包括缺陷数据向量空间模型构建、缺陷数据相似度计算、缺陷数据离散化编码、数据矩阵简化、染色体集合获取及负关联关系提取等步骤。该方法解决了现有负关联关系分析方法不成熟、效率低、可信度不高的难题，不需要频繁地对数据库的访问，只需要一次对数据库的访问即可完成整个分析过程。基于该分析方法，本发明还提供了缩减软件测试项目的方法，通过对负关联关系的分析，能够有效帮助测试人员筛选出与缺陷无关的测试项目，进而提高软件测试的效率。

主权项

一种软件缺陷数据分析方法，其特征在于，包括以下步骤：步骤1、读取软件缺陷数据库，从软件缺陷数据库中提取软件缺陷的相关特征属性，并分别将这些特征属性进行离散化编码，建立软件缺陷数据向量空间模型；步骤2、根据软件缺陷数据的向量空间模型，引入模糊等价矩阵计算不同软件缺陷数据之间的相似度，并且，提取相似度值介于预定的上、下边界阈值之间的相关缺陷数据作为分析对象，对于每个分析对象，形成负关联规则的初始前件和后件；步骤3、将所述步骤2获得的相关缺陷数据离散化编码，并创建数据矩阵；步骤4、简化数据矩阵；步骤5、根据简化的数据矩阵生成初始染色体种群，进行遗传操作，获得具有强关联关系的染色体集合；步骤6、根据预定的支持度和置信度的阈值，对步骤5中所获得的染色体集合中的每个染色体进行判断，以便从所述染色体集合中提取出各软件缺陷的负关联关系。