[发明专利]一种经纬仪外场无穷远距离校正方法有效
| 申请号： | 201410593371.5 | 申请日： | 2014-10-28 |
| 公开（公告）号： | CN104316082B | 公开（公告）日： | 2017-09-12 |
| 发明（设计）人： | 唐杰;蔡盛 | 申请（专利权）人： | 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所 |
| 主分类号： | G01C25/00 | 分类号： | G01C25/00 |
| 代理公司： | 长春菁华专利商标代理事务所(普通合伙)22210 | 代理人： | 南小平 |
| 地址： | 130033 吉*** | 国省代码： | 吉林;22 |
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| 摘要： | 本发明一种经纬仪外场无穷远距离校正方法，解决现有技术对大中型经纬仪外场调焦存在较大误差的技术问题；本发明包括以下步骤步骤一采用高精度平面镜对自准直平行光管进行自校准平面镜沿着自准直平行光管光轴方向放置，镜面与自准直平行光管的光轴垂直，调整自准直平行光管上分划板的位置，直到分划板上平面镜的返回像最清晰；步骤二将被校准后的自准直平行光管作为无穷远距离基准，对经纬仪调焦系统进行无穷远距离校正经纬仪的光轴与自准直平行光管光轴的方向平行，且经纬仪的通光口径与自准直平行光管的通光口径相互对应，通过经纬仪的光学系统观察分划板图像，并调节经纬仪上的调焦组件的位置，直到分划板图像最清晰。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 经纬仪 外场 无穷 远距离 校正 方法 | ||
【主权项】：
一种经纬仪外场无穷远距离校正方法，其特征在于，步骤一：采用高精度平面镜(2)对自准直平行光管(3)进行自校准：高精度平面镜(2)沿着自准直平行光管光轴方向放置，高精度平面镜(2)镜面与自准直平行光管(3)的光轴平行，调整自准直平行光管(3)上分划板的位置，直到分划板上高精度平面镜(2)的返回像达到最清晰，所述分划板上平面镜的返回像在调节分划板的位置过程中图像由模糊到清晰，再由清晰到模糊；步骤二：采用步骤一中被校准后的自准直平行光管(3)作为无穷远距离基准，对经纬仪(1) 调焦系统进行无穷远距离校正:经纬仪(1)的光轴与自准直平行光管(3)光轴的方向平行，且经纬仪(1)的通光口径与自准直平行光管(3)的通光口径相互对应，通过经纬仪(1)的光学系统观察分划板图像，并调节经纬仪(1)上的调焦组件的位置，直到分划板图像最清晰，所述分划板图像在调节经纬仪调焦组件的位置的过程中图像是由模糊到清晰，再由清晰到模糊。
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