[发明专利]单壁碳纳米管水平阵列及其制备方法与应用有效
申请号: | 201410594882.9 | 申请日: | 2014-10-29 |
公开(公告)号: | CN105621388B | 公开(公告)日: | 2018-06-08 |
发明(设计)人: | 张锦;康黎星;胡悦;赵秋辰;张树辰 | 申请(专利权)人: | 北京大学 |
主分类号: | C01B32/159 | 分类号: | C01B32/159;C01B32/16;B82Y30/00 |
代理公司: | 北京纪凯知识产权代理有限公司 11245 | 代理人: | 关畅 |
地址: | 100871 北*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | 本发明公开了一种单壁碳纳米管水平阵列及其制备方法与应用。该方法如下步骤:向单晶生长基底中进行离子注入后退火,在化学气相沉积系统中通入氢气进行还原反应,并保持氢气的继续通入进行阵列的生长,生长完毕即在所述单晶生长基底上得到所述单壁碳纳米管水平阵列。该方法具有简单高效,与现有微纳工艺兼容,易于实现大面积均匀可控,适合规模化生产的优点。并且,通过调控离子注入的能量和剂量,选择合适的催化剂和基底,有望实现单壁碳纳米管水平阵列的可控制备和大规模生产,因此本方法在纳电子器件等领域具有极其广阔的应用前景。 | ||
搜索关键词: | 单壁碳纳米管 水平阵列 基底 单晶生长 氢气 制备 离子 化学气相沉积系统 应用 规模化生产 纳电子器件 工艺兼容 还原反应 生长 后退火 可控制 可控 催化剂 调控 | ||
【主权项】:
一种制备单壁碳纳米管水平阵列的方法,包括如下步骤:向单晶生长基底中进行离子注入后退火,在化学气相沉积系统中通入氢气进行还原反应,并保持氢气的继续通入进行阵列的生长,生长完毕即在所述单晶生长基底上得到所述单壁碳纳米管水平阵列;构成所述单晶生长基底的材料为a面α氧化铝或r面α氧化铝;所述离子选自下述元素中的至少一种:Fe、Co、Ni、Cu、Au、Mo、Zn、W、Ru、Cr、Rh、V、Ti、Al、Mg和Pd、B、P和As;所述离子注入步骤中,注入能量为15KeV~200KeV,注入剂量为1×1014~1×1018ions/cm2;真空度为1×10‑3‑1×10‑7Pa;所述方法还包括如下步骤:在所述离子注入步骤之前,将所述单晶生长基底进行预处理;所述预处理包括如下步骤:将所述单晶生长基底依次在超纯水、丙酮、乙醇和超纯水中各超声清洗10min,再用氮气吹干后,置于马弗炉中,在2h内由室温升至1100℃恒温8h,再在10h内降温至300℃,再自然降温至室温。
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