[发明专利]基于MSR的短波红外成像辐射量校正方法在审
申请号: | 201410597729.1 | 申请日: | 2014-10-31 |
公开(公告)号: | CN104346784A | 公开(公告)日: | 2015-02-11 |
发明(设计)人: | 周津同 | 申请(专利权)人: | 北京津同利华科技有限公司 |
主分类号: | G06T5/00 | 分类号: | G06T5/00 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 102200 北京市昌平区科技园区超前路35*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | 本发明公开了基于MSR的短波红外成像辐射量校正方法包括:步骤1:建立短波红外图像的退化和恢复模型;步骤2:将经过步骤1的短波红外图像在短波红外焦平面的MSR算法模型中进行运算;步骤3:将经过步骤2的短波红外图像基于MSR算法的红外成像辐射量校正;本发明采用MSR算法对辐射量退化的短波红外图像进行恢复,同时具有图像增强的作用。 | ||
搜索关键词: | 基于 msr 短波 红外 成像 辐射量 校正 方法 | ||
【主权项】:
基于MSR的短波红外成像辐射量校正方法,其特征在于,包括:步骤1:建立短波红外图像的退化和恢复模型;步骤2:将经过步骤1的短波红外图像在短波红外焦平面的MSR算法模型中进行运算;步骤3:将经过步骤2的短波红外图像基于MSR算法的红外成像辐射量校正。
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