[发明专利]低渗透率储层的固有渗透率解释方法及系统有效
申请号: | 201410604819.9 | 申请日: | 2014-10-30 |
公开(公告)号: | CN104297130A | 公开(公告)日: | 2015-01-21 |
发明(设计)人: | 李道伦;刘聪;卢德唐 | 申请(专利权)人: | 中国科学技术大学 |
主分类号: | G01N15/08 | 分类号: | G01N15/08 |
代理公司: | 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 | 代理人: | 王宝筠 |
地址: | 230026*** | 国省代码: | 安徽;34 |
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摘要: | 本发明公开了低渗透率储层的固有渗透率解释方法及系统,首先确定测试样本中气体的流量测量值随测试压力变化的第一曲线,之后设定测试样本的预设渗透率、以漫反射形式被孔隙壁面反射回来的气体比例,以及滑移距离与分子平均自由程之比,利用表观渗透率修正公式对预设渗透率进行修正,基于修正后的渗透率及其他相关参数进行渗流方程求解,获得不同测试压力下测试样本中气体的流量计算值,之后生成测试样本中气体的流量计算值随测试压力变化的第二曲线,当第一曲线和第二曲线的拟合结果满足预设精度要求时,将当前设定的预设渗透率作为测试样本的固有渗透率。本发明公开的方法和系统,能够更加准确的解释低渗透率储层的固有渗透率。 | ||
搜索关键词: | 渗透 率储层 固有 解释 方法 系统 | ||
【主权项】:
一种低渗透率储层的固有渗透率解释方法,所述低渗透率储层包括致密岩心和页岩,其特征在于,所述方法包括:确定测试样本中气体的流量测量值随测试压力变化的第一曲线;设定所述测试样本的预设渗透率、以漫反射形式被孔隙壁面反射回来的气体比例,以及滑移距离与分子平均自由程之比;利用表观渗透率修正公式对所述测试样本的预设渗透率进行修正;利用岩心模型、测试压力、气体性质和对所述预设渗透率进行修正后得到的渗透率值进行渗流方程求解,对在不同测试压力下所述测试样本中气体的流动情况进行模拟,获得不同测试压力下所述测试样本中气体的流量计算值,生成所述测试样本中气体的流量计算值随测试压力变化的第二曲线;对所述第一曲线和所述第二曲线进行拟合,得到拟合结果;如果所述拟合结果满足预设精度要求,则确定当前设定的所述测试样本的预设渗透率为所述测试样本的固有渗透率,确定当前设定的以漫反射形式被孔隙壁面反射回来的气体比例为所述测试样本以漫反射形式被孔隙壁面反射回来的气体比例,确定当前设定的滑移距离与分子平均自由程之比为所述测试样本的滑移距离与分子平均自由程之比;如果所述拟合结果不满足所述预设精度要求,则重新设定所述测试样本的预设渗透率、孔隙壁面以漫反射形式被孔隙壁面反射回来的气体比例,以及滑移距离与分子平均自由程之比,执行利用表观渗透率修正公式对所述测试样本的预设渗透率进行修正的步骤及后续步骤。
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