[发明专利]高效薄膜晶硅太阳电池及其自主能源芯片集成技术有效
申请号: | 201410608127.1 | 申请日: | 2014-10-31 |
公开(公告)号: | CN104319316A | 公开(公告)日: | 2015-01-28 |
发明(设计)人: | 卞剑涛;端伟元;俞健;刘正新 | 申请(专利权)人: | 中国科学院上海微系统与信息技术研究所 |
主分类号: | H01L31/20 | 分类号: | H01L31/20;H01L27/142;H01L31/0352;H01L31/075;H01L31/0224 |
代理公司: | 上海光华专利事务所 31219 | 代理人: | 李仪萍 |
地址: | 200050 *** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | 本发明提出了一种高效薄膜晶硅太阳电池及其自主能源集成芯片的制备方法,该方法采用了硅薄膜外延技术,克服了CMOS集成电路和太阳电池对硅材料掺杂浓度要求不同之间的矛盾;太阳电池采用本征非晶硅层/N型非晶硅层/透明导电膜异质结结构,提高了开路电压和转换效率,有利于提高芯片有效面积和集成度;利用了SOI材料中埋氧层的钝化和光学特性,可以提高薄膜晶硅太阳电池性能。该集成技术中,采用了两次ITO技术,克服了高温热处理对太阳电池性能,特别是开路电压的影响。本发明的制备方法与CMOS工艺具有兼容性,适用于大规模的工业生产。 | ||
搜索关键词: | 高效 薄膜 太阳电池 及其 自主 能源 芯片 集成 技术 | ||
【主权项】:
一种高效薄膜晶硅太阳电池的制备方法,其特征在于,至少包括以下步骤:1)提供一SOI衬底,所述SOI衬底由下至上依次包括背衬底、埋氧层和顶层硅;2)在所述顶层硅上依次形成P型高掺杂浓度的硅外延层和P型低掺杂浓度的硅外延层;3)在所述P型低掺杂浓度的硅外延层上形成发射极层;4)在所述发射极层上定义刻蚀区域,对所述刻蚀区域进行刻蚀以形成沟槽,所述沟槽至少包括基极区域沟槽;所述沟槽贯穿所述发射极层,所述沟槽的底部位于所述P型低掺杂浓度的硅外延层内或延伸至所述P型高掺杂浓度的硅外延层上表面;5)在所述基极区域沟槽底部制备基极电极;6)在所述发射极层上制备发射极电极;7)将步骤6)所得到的结构进行退火热处理。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L31-00 对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射,或微粒辐射敏感的,并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或者专门适用于通过这样的辐射进行电能控制的半导体器件;专门适用于制造或处理这些半导体器件或其部件的方法或
H01L31-02 .零部件
H01L31-0248 .以其半导体本体为特征的
H01L31-04 .用作转换器件的
H01L31-08 .其中的辐射控制通过该器件的电流的,例如光敏电阻器
H01L31-12 .与如在一个共用衬底内或其上形成的,一个或多个电光源,如场致发光光源在结构上相连的,并与其电光源在电气上或光学上相耦合的
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