[发明专利]使用发光标记物的痕量结合高分辨度地跟踪工业过程材料在审
| 申请号： | 201410612342.9 | 申请日： | 2006-05-10 |
| 公开（公告）号： | CN104463295A | 公开（公告）日： | 2015-03-25 |
| 发明（设计）人： | 马克·波恩;约翰·克拉福特;安通·劳尼柯尼斯;P·奥斯瓦斯;G·F·斯维格斯 | 申请（专利权）人： | 数据跟踪DNA控股公司 |
| 主分类号： | G06K19/06 | 分类号： | G06K19/06;G01N21/63;G01N21/64 |
| 代理公司： | 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 11038 | 代理人： | 王永刚 |
| 地址： | 澳大利亚*** | 国省代码： | 澳大利亚;AU |
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| 摘要： | 一种标记工业过程材料(7)的方法，包括将痕量的发光标记物(1)有选择地结合到工业过程材料(7)之上和/或之中，该痕量在存在环境光时不足以光学可测、但是在原地就地的或者现场的工业过程材料之上和/或之中是足以无损地光学可测的，其中痕量的发光标记物(1)被用于为了材料控制、库存控制、存货控制、过程控制、物流控制、质量控制以及污染控制中的至少一个而跟踪、识别或者鉴定工业过程材料(7)。 | ||
| 搜索关键词： | 使用 发光 标记 痕量 结合 分辨 跟踪 工业 过程 材料 | ||
【主权项】：
一种系统，包括：便携式发光读出器，其被配置为原地就地或者现场地检测赋予工业过程材料和/或由其构成的产品、零件或结构的独特的发光响应，通过包含到各个工业过程材料和/或由其构成的产品、零件或结构之中和/或之上的痕量的发光标记物，赋予各个独特的发光响应，其中所述发光标记物包括多种组分发光材料，所述多种组分发光材料中的每种发光材料具有包含对该发光材料独特的一个或多个区别性的峰的磷光发射光谱，使得来自各个发光材料的发光彼此互不干扰；数据库，将关于工业过程材料、产品、零件和/或结构及其相应被赋予的独特的发光响应的信息关联地存储起来；处理器指令，用于使处理器对由便携式发光读出器检测的发光响应与数据库中存储的被赋予的独特发光响应进行比较，以识别或鉴定工业过程材料、产品、零件和/或结构。
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