[发明专利]测试单元、阵列基板及其制造方法、显示面板和显示装置有效
| 申请号： | 201410613678.7 | 申请日： | 2014-11-04 |
| 公开（公告）号： | CN104345484A | 公开（公告）日： | 2015-02-11 |
| 发明（设计）人： | 詹裕程;刘建宏 | 申请（专利权）人： | 京东方科技集团股份有限公司 |
| 主分类号： | G02F1/13 | 分类号： | G02F1/13;G02F1/1333 |
| 代理公司： | 北京天昊联合知识产权代理有限公司 11112 | 代理人： | 彭瑞欣;陈源 |
| 地址： | 100015 *** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明提供一种测试单元，其中，所述测试单元包括至少一层测试图形，每层所述测试图形包括多条宽度互不相同且互相间隔的测试线。本发明还提供一种阵列基板及其制造方法、一种显示面板和一种显示装置。由于每层所述测试图形都包括具有不同宽度的多条测试线，因此，在形成了一层测试图形以及和该测试图形同层的显示图形之后，可以通过观察测试图形中每条测试线的状态就可以确定形成所述显示图形时的曝光和刻蚀的工艺能力。当多条测试线中的一条上出现缺口或者没有达到预定的宽度时，则说明在制造与所述测试图形同层的显示图形时，不能正确地形成具有上述预定的宽度的线，应当对工艺参数进行调整。 | ||
| 搜索关键词： | 测试 单元 阵列 及其 制造 方法 显示 面板 显示装置 | ||
【主权项】：
一种测试单元，其特征在于，所述测试单元包括至少一层测试图形，每层所述测试图形包括多条宽度互不相同且互相间隔的测试线。
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