[发明专利]一种SoC系统的校验方法在审
| 申请号： | 201410625088.6 | 申请日： | 2014-11-10 |
| 公开（公告）号： | CN105653390A | 公开（公告）日： | 2016-06-08 |
| 发明（设计）人： | 周佩;王芬芬 | 申请（专利权）人： | 无锡华润矽科微电子有限公司 |
| 主分类号： | G06F11/10 | 分类号： | G06F11/10 |
| 代理公司： | 江苏英特东华律师事务所 32229 | 代理人： | 邵鋆 |
| 地址： | 214135 江苏省无锡市*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本发明提供一种SoC系统的校验方法，其特征在于，包括以下步骤：1）单片机mcu通过数据总线将要校验的数据输入到32位数据输入寄存器；2）CRC并行计算模块从输入寄存器中取出数据；3）CRC并行计算模块进行基于CRC_CCITT标准的CRC16校验计算；4）并行计算模块将校验结果输入到校验结果寄存器；5）校验结果寄存器反馈上一次的计算结果给计算模块进行下一次计算；6）校验结果寄存器将结果返回给mcu数据总线，所述一种SoC系统的校验方法具有更快的速度，更高的稳定性，计算速度可提升的空间也很大，且占用的资源也更少。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 soc 系统 校验 方法 | ||
【主权项】：
一种SoC系统的校验方法，其特征在于，包括以下步骤：1）单片机mcu通过数据总线将要校验的数据输入到32位数据输入寄存器；2）CRC并行计算模块从输入寄存器中取出数据；3）CRC并行计算模块进行基于CRC_CCITT标准的CRC16校验计算；4）并行计算模块将校验结果输入到校验结果寄存器；5）校验结果寄存器反馈上一次的计算结果给计算模块进行下一次计算；6）校验结果寄存器将结果返回给mcu数据总线。
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