[发明专利]微弱光信号光谱的快速测试装置及方法有效

专利信息
申请号: 201410625103.7 申请日: 2014-11-07
公开(公告)号: CN104344890A 公开(公告)日: 2015-02-11
发明(设计)人: 李燕;杨鸿儒;卢飞;占春连;李正琪 申请(专利权)人: 西安应用光学研究所
主分类号: G01J3/28 分类号: G01J3/28
代理公司: 西北工业大学专利中心 61204 代理人: 陈星
地址: 710065 陕西*** 国省代码: 陕西;61
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摘要: 发明提出一种微弱光信号光谱的快速测量装置及方法,在分光型光谱测量系统的光源光谱功率分布测试方法的基础上,采用面阵CCD替代原有的线阵CCD,可以对微弱光信号同时完成多次测量,通过对测量结果的处理,可以提高输出信号的强度,同时又去除了随机噪声,实现了微弱光信号光谱功率分布的快速测量。本发明微弱光信号光谱快速测量方法测量速度快,精度高,操作简单,通用性强,为其他类型光谱仪的光谱测试提供了技术支持。
搜索关键词: 微弱 信号 光谱 快速 测试 装置 方法
【主权项】:
一种微弱光信号光谱的快速测试装置,其特征在于:包括光学平台、标准灯、光栅分光系统、带有面阵CCD探测器的光谱数据采集系统和计算机数据处理系统;光栅分光系统和带有面阵CCD探测器的光谱数据采集系统安装在光学平台上,且光学平台上安装有升降平台,升降平台位于光栅分光系统的入射狭缝一侧;标准灯和待测光源均能够安装在升降平台上;标准灯或待测光源发出的光首先进入光栅分光系统,形成一系列按波长排列的光谱信号,光谱信号投射在光谱数据采集系统的面阵CCD探测器上,面阵CCD探测器把接收到的光谱信号转换为电信号输出给计算机数据处理系统。
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