[发明专利]一种静子叶片多截面弦长检测装置

摘要

本发明涉及一种检测装置，具体涉及一种静子叶片多截面弦长检测装置。本发明的技术方案为：一种静子叶片多截面弦长检测装置，包括叶片轴向定位机构、测尺机构、测量截面定位机构；由两个分别与叶片轴向及叶片弦长方向平行的十字交叉组合安装的直线导轨组成的结构，实现测量截面位置任意调整，且安装在其上的数显卡尺的两测爪在测量叶片弦长方向可双向自由移动。本发明提供一种静子叶片多截面弦长检测装置，能够精确定位所需测量弦长的静子叶片截面，能够精确测量静子叶片多截面的弦长。

主权项

一种静子叶片多截面弦长检测装置，其特征在于，所述装置包括叶片轴向定位机构、测尺机构、测量截面定位机构；叶片轴向定位机构包括底座、导轨一、滑块一、顶尖座一和顶尖座二，导轨一沿轴向安装在底座上，滑块一安装在导轨一上，顶尖座一和顶尖座二分别安装在底座的两端，顶尖座一上设置顶尖一和弹簧一，顶尖座二上设置顶尖二和弹簧二，顶尖一和顶尖二可以顶入静子叶片两端的顶尖孔内，利用弹簧一和弹簧二的顶紧将静子叶片轴心水平定位；测尺机构包括导轨二、滑块二和数显卡尺，导轨二与导轨一呈十字交叉设置，导轨二安装于滑块一上，滑块二安装在导轨二上，数显卡尺安装在滑块二上，数显卡尺的两个测爪可以相对运动，数显卡尺可以随着滑块二在导轨二上移动；测量截面定位机构包括板条、插销和磁性定位平面，板条设置在底座上位于导轨一的两侧，板条上设置多个定位孔，磁性定位平面设置在滑块一的侧面，将插销插入定位孔与磁性定位平面靠紧吸贴实现测量截面位置的定位。