[发明专利]高精度红外样品材料光谱发射率测量装置及方法

摘要

本发明提出一种高精度红外样品材料光谱发射率测试装置及方法，采用光谱比对测量法，通过设计光学偶合系统和水冷可变光栏，满足各类不同尺寸样品材料发射率的测试需求，通过对相同波长点多次测量信号叠加运算的方法，实现信号选择放大，有效拟制环境背景的噪音和系统杂散光，提高了测量精度，实现了对样品材料光谱发射率的高精度测试。该方法解决了目前不同尺寸红外样品材料光谱发射率高精度测量难题，具有测量精度高、温度范围大、适合不同尺寸样品材料等优点。本发明不仅能够满足各类红外材料光谱发射率的准确测试，而且对红外目标、红外模拟器光谱发射率以及红外目标光谱辐射亮度的计量测试具有一定的指导意义。

主权项

一种高精度红外样品材料光谱发射率测量装置，其特征在于：包括变温标准黑体及其温控系统、样品加热炉、两个水冷可变光栏、红外光学偶合系统、红外傅立叶光谱仪、计算机测试系统；红外光学耦合系统由一个旋转反射镜、一个离轴抛物面镜和一个平面反射镜组成；变温标准黑体和样品加热炉放置在旋转反射镜两侧，样品加热炉出口中心和变温标准黑体出口中心相对，样品加热炉出口中心和变温标准黑体出口中心到旋转反射镜中心的距离相等；样品加热炉出口中心、变温标准黑体出口中心以及旋转反射镜中心在一条直线上；第一水冷可变光栏放置在距变温标准黑体出口L处，且第一水冷可变光栏口径小于变温标准黑体的输出口径；第二水冷可变光栏放置在样品加热炉出口L处，第二水冷可变光栏口径等于第一水冷可变光栏口径；变温标准黑体发出的红外辐射信号经第一水冷可变光栏限束后，或者样品加热炉发出的红外辐射信号经第二水冷可变光栏限束后，打到旋转反射镜上，旋转反射镜将该信号反射后，由离轴抛物面镜接收，离轴抛物面镜将该信号转换为平行光，再经平面反射镜反射，由红外傅立叶光谱仪接收；红外傅立叶光谱仪将信号传递给计算机测试系统。