[发明专利]一种验证C波段GaN微波功率器件用测试板性能的装置在审
| 申请号： | 201410625958.X | 申请日： | 2014-11-07 |
| 公开（公告）号： | CN104375028A | 公开（公告）日： | 2015-02-25 |
| 发明（设计）人： | 沈美根;陈强;郑立荣;关晓龙;闫峰;李贺 | 申请（专利权）人： | 江苏博普电子科技有限责任公司 |
| 主分类号： | G01R31/00 | 分类号： | G01R31/00 |
| 代理公司： | 南京纵横知识产权代理有限公司 32224 | 代理人： | 董建林 |
| 地址： | 214131 江苏省*** | 国省代码： | 江苏;32 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明公开了一种验证C波段GaN微波功率器件用测试板性能的装置，其特征是，包括散热底座、测试板和测试器件；所述测试板焊接在散热底座上；所述测试板的输入端和输出端均采用焊接方式，并采用螺丝钉固定接地；所述测试板上焊接有无源元器件。本发明所达到的有益效果：散热底座采用铜底座可以增强电特性和散热特性。测试板和散热底座采用焊接的方式连接，有利于C波段频率下的接地性能。测试器件采用RF2417SPC-E封装,该器件的封装形式和C波段GaN微波功率器件采用了同一种封装形式，从而可以尽量的减小因为封装不同而在匹配上带来的误差。整个装置结构简单，且尽量避免了一切外界因素的干扰，提高了检测的准确度，且成本低，操作起来简易。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 验证 波段 gan 微波 功率 器件 测试 性能 装置 | ||
【主权项】：
一种验证C波段GaN微波功率器件用测试板性能的装置，其特征是，包括散热底座、测试板和封装器件；所述测试板焊接在散热底座上；所述测试板的输入端和输出端均采用焊接方式，并采用螺丝钉固定接地；所述测试板上焊接有无源元器件；所述无源元器件包括输入射频接口、输出射频接口、耦合电容、电阻和滤波电容。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于江苏博普电子科技有限责任公司，未经江苏博普电子科技有限责任公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201410625958.X/，转载请声明来源钻瓜专利网。
