[发明专利]一种具有浮岛结构的沟槽型二极管有效
申请号: | 201410629077.5 | 申请日: | 2014-11-10 |
公开(公告)号: | CN104393055A | 公开(公告)日: | 2015-03-04 |
发明(设计)人: | 李泽宏;伍济;刘永;陈钱;郭绪阳 | 申请(专利权)人: | 电子科技大学 |
主分类号: | H01L29/861 | 分类号: | H01L29/861;H01L29/06 |
代理公司: | 成都宏顺专利代理事务所(普通合伙) 51227 | 代理人: | 李玉兴 |
地址: | 611731 四川省成*** | 国省代码: | 四川;51 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本发明属于功率半导体器件技术领域,涉及一种具有浮岛结构的沟槽型二极管。本发明的沟槽型二极管,其特征在于,在沟槽中设置有第一N型半导体掺杂区、浮空P岛和第二N型半导体掺杂区;所述第二N型半导体掺杂区位于沟槽的侧壁与栅氧化层相连;所述浮空P岛位于第二N型半导体掺杂区之间;所述第一N型半导体掺杂区位于第二N型半导体掺杂区和浮空P岛的顶部,并与阳极相连。本发明的有益效果为,可在同样的电流密度下实现更低的正向压降,器件在高温下的可靠性更好。本发明尤其适用于沟槽型二极管。 | ||
搜索关键词: | 一种 具有 结构 沟槽 二极管 | ||
【主权项】:
一种具有浮岛结构的沟槽型二极管,包括N型半导体衬底(7)、位于N型半导体衬底(7)底部的阴极(8)、位于N型半导体衬底(7)上层的N型半导体漂移区(6)、位于N型半导体漂移区(6)上层的栅氧化层(2)和位于栅氧化层(2)上层的阳极(1);所述栅氧化层(2)为沟槽型结构;其特征在于,在沟槽两侧的栅氧化层(2)之间设置有第一N型半导体掺杂区(3)、浮空P岛(4)和第二N型半导体掺杂区(5);所述第二N型半导体掺杂区(5)位于沟槽的侧壁与栅氧化层(2)相连;所述浮空P岛(4)位于沟槽两侧的第二N型半导体掺杂区(5)之间;所述第一N型半导体掺杂区(3)位于第二N型半导体掺杂区(5)和浮空P岛(4)的顶部,并与阳极(1)相连。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于电子科技大学,未经电子科技大学许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201410629077.5/,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 同类专利
- 专利分类