[发明专利]交调测试装置、系统和方法在审
| 申请号： | 201410635507.4 | 申请日： | 2014-11-12 |
| 公开（公告）号： | CN104410466A | 公开（公告）日： | 2015-03-11 |
| 发明（设计）人： | 张贤凤 | 申请（专利权）人： | 摩比天线技术（深圳）有限公司;摩比通讯技术（吉安）有限公司;摩比科技（西安）有限公司 |
| 主分类号： | H04B17/00 | 分类号： | H04B17/00 |
| 代理公司： | 深圳中一专利商标事务所 44237 | 代理人： | 张全文 |
| 地址： | 518057 广东省深圳市*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 一种交调测试装置、系统和方法，交调测试装置与上位机交互通讯，包括：信号源，用于发射多路可调的测试信号；合路器，与所述信号源连接，将多路所述测试信号进行合路并输出到被测器件；频谱仪，与所述被测器件连接，接收所述被测器件输出的被测信号并呈现测试结果；所述上位机与所述信号源和所述频谱仪交互通讯，发送指令至所述信号源和所述频谱仪以配置测试参数。交调测试系统和系统设置上述交调测试装置，在对射频器件和天线做交调测试或谐波分量测试时，通过上位机灵活配置信号源和频谱仪的测试参数，自动校准自组测试系统，区别于固定频段和一体化的测试设备，测试范围更宽，系统灵活配置。 | ||
| 搜索关键词： | 测试 装置 系统 方法 | ||
【主权项】：
一种交调测试装置，与上位机交互通讯，其特征在于，包括：信号源，用于发射多路可调的测试信号；合路器，与所述信号源连接，将多路所述测试信号进行合路并输出到被测器件；频谱仪，与所述被测器件连接，接收所述被测器件输出的被测信号并呈现测试结果；所述上位机与所述信号源和所述频谱仪交互通讯，发送指令至所述信号源和所述频谱仪以配置测试参数。
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