[发明专利]基于(111)单晶硅片的高谐振频率高冲击加速度计及制作方法有效

专利信息
申请号: 201410638056.X 申请日: 2014-11-13
公开(公告)号: CN104316725A 公开(公告)日: 2015-01-28
发明(设计)人: 李昕欣;邹宏硕;王家畴;张鲲 申请(专利权)人: 中国科学院上海微系统与信息技术研究所
主分类号: G01P15/12 分类号: G01P15/12
代理公司: 上海光华专利事务所 31219 代理人: 李仪萍
地址: 200050 *** 国省代码: 上海;31
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摘要: 发明提供一种基于(111)单晶硅片的高谐振频率高冲击加速度计及制作方法,所述加速度计包括(111)单晶硅基底和集成于单晶硅基底一面的固支板、微梁与力敏电阻。该单晶硅基底上所有功能部件均位于所述单晶硅基底的一面,所述单晶硅基底的另一面不参与工艺制作,加工后的芯片具有尺寸小、工艺简单、成本低的特点,适合大批量生产。同时,所述加速度计实现了高g值、高频响、高带宽的测量要求,大大改善了加速度计的动态测量特性。
搜索关键词: 基于 111 单晶硅 谐振 频率 冲击 加速度计 制作方法
【主权项】:
一种基于(111)单晶硅片的高谐振频率高冲击加速度计,其特征在于,包括:(111)单晶硅基底、固支板、微梁和力敏电阻;其中,所述固支板三边固支于所述(111)单晶硅基底内;所述固支板在单晶硅基底表面上的一边为非固支边,所述固支板的两侧面与所述单晶硅基底之间具有一定间距的间隙;所述微梁对称地分布于所述固支板两侧;且所述微梁横跨所述间隙,一端与所述弹性板的非固支边相连接,另一端与所述(111)单晶硅基底相连接;所述微梁纵截面的形状为矩形;所述力敏电阻位于所述微梁上,且相互连接成惠斯通全桥电路。
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