[发明专利]具有增大的故障覆盖率的集成电路

摘要

本发明涉及具有增大的故障覆盖率的集成电路。公开了一种用于增大集成电路(IC)设计的故障覆盖率的电子设计自动化(EDA)工具，该工具包含用于将至少一个XOR门、AND门、OR门及多路复用器插入观察测试点与IC设计的现有的第一扫描触发器的处理器。XOR门借助于AND门、OR门及多路复用器给第一扫描触发器提供观察测试信号，使得观察测试信号覆盖在观察测试点处出现的故障。第一扫描触发器基于观察测试信号来输出数据输入信号、测试模式集及第一测试信号集，用于指示IC设计是否有故障。能够在结构上进行测试的可测试的IC使用IC设计来制作。

主权项

一种用于增大集成电路IC设计的故障覆盖率的电子设计自动化EDA工具，其中所述IC设计包含与所述IC设计的多个逻辑元件的输出对应的多个观察测试点，所述EDA工具包括：用于存储所述IC设计的存储器；以及与所述存储器通信的处理器，其中所述处理器包括：用于识别与所述多个观察测试点中的第一观察测试点集对应的所述IC设计的第一扫描触发器的装置，其中所述第一观察测试点集生成第一测试信号集；用于通过以下操作将至少一个XOR门、AND门和OR门插入所述第一观察测试点集与所述第一扫描触发器之间的装置：将所述XOR门的第一输入端子集连接至所述第一观察测试点集用于接收所述第一测试信号集，将所述XOR门的输出端子连接至所述AND门的第一输入端子用于向其提供观察测试信号，将所述AND门的输出端子连接至所述OR门的第一输入端子，以及将所述OR门的输出端子连接至所述第一扫描触发器的扫描使能输入端子；用于向所述AND门的第二输入端子提供观察测试点使能信号，向所述OR门的第二输入端子提供扫描使能信号，以及向所述第一扫描触发器的数据和扫描输入端子分别提供数据输入信号和测试模式集的装置，其中所述AND门基于所述观察测试点使能信号而向所述OR门提供第一中间观察测试信号，并且所述OR门基于所述扫描使能信号而向所述第一扫描触发器的所述扫描使能输入端子提供第二中间观察测试信号；以及用于在所述第一扫描触发器的输出端子处观察所述数据输入信号和所述测试模式集中的至少一个的装置。