[发明专利]一种气体传感器芯片的制造方法在审

专利信息
申请号: 201410644793.0 申请日: 2014-11-14
公开(公告)号: CN104391037A 公开(公告)日: 2015-03-04
发明(设计)人: 禹胜林 申请(专利权)人: 无锡信大气象传感网科技有限公司
主分类号: G01N29/02 分类号: G01N29/02
代理公司: 南京经纬专利商标代理有限公司 32200 代理人: 张惠忠
地址: 214135 江苏省无锡市无锡国家高新技*** 国省代码: 江苏;32
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摘要: 发明公开一种气体传感器芯片的制造方法:在第一层压电基片上开设参比气体通道;在第二层压电基片上涂覆气体敏感膜;在第四层压电基片的表面蒸镀牺牲层,并将所述牺牲层刻成需要的图形;在渡有牺牲层的基板表面依次蒸镀Ti过渡层和Au功能膜层;将牺牲层上方的Ti过渡层和Au功能膜层去掉;利用湿法腐蚀或等离子刻蚀将铝牺牲层去掉;形成所述声表面波传感器芯片的金膜叉指图形和成膜区;在成膜区生长敏感膜层;将参比电极设置在第一层压电基片和第二层压电基片之间,将加热电极设置在第二层压电基片和第三层压电基片之间;将第一层压电基片至第四层压电基片顺次叠压在一起。该制作过程提高芯片寿命、提高成品率、制作工艺简单。
搜索关键词: 一种 气体 传感器 芯片 制造 方法
【主权项】:
一种气体传感器芯片的制造方法:其特征在于,包括以下步骤:在第一层压电基片上开设参比气体通道;在第二层压电基片上涂覆气体敏感膜;在第四层压电基片的表面蒸镀牺牲层,并将所述牺牲层刻成需要的图形;在渡有牺牲层的基板表面依次蒸镀Ti过渡层和Au功能膜层;将牺牲层上方的Ti过渡层和Au功能膜层去掉;利用湿法腐蚀或等离子刻蚀将铝牺牲层去掉;经过步骤4)后,形成所述声表面波传感器芯片的金膜叉指图形和成膜区;在成膜区生长敏感膜层;将参比电极设置在第一层压电基片和第二层压电基片之间,将加热电极设置在第二层压电基片和第三层压电基片之间;将第一层压电基片至第四层压电基片顺次叠压在一起。
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