[发明专利]离子阱质量分析器中直流电压驱动的串级质谱分析方法在审

专利信息
申请号: 201410647270.1 申请日: 2014-11-14
公开(公告)号: CN104362070A 公开(公告)日: 2015-02-18
发明(设计)人: 徐福兴;陈银娟;方向;汪源源;丁传凡 申请(专利权)人: 复旦大学
主分类号: H01J49/42 分类号: H01J49/42;H01J49/02;G01N27/62
代理公司: 上海正旦专利代理有限公司 31200 代理人: 陆飞;盛志范
地址: 200433 *** 国省代码: 上海;31
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摘要: 发明属于质谱分析测试技术领域,具体为离子阱质量分析器中直流电压驱动的串级质谱分析方法。本发明方法具体包括离子选择隔离、碰撞诱导解离和质量分析三个阶段;在碰撞诱导解离阶段,通过在离子阱质量分析器电极上施加非对称波形射频工作电压,使得在离子阱中心产生偏置直流电压;此偏置直流电压将使得被隔离的具有一定质荷比的母体离子偏离离子阱束缚中心获得能量而被激发.被激发到高能量状态的离子,可以与与离子阱中的中性分子发生碰撞并解离,实现串级质谱分析。本发明优点在于,它不需要额外的直流电源,仅通过软件的控制即可实现偏置直流电压,实现时序控制,可以显著简化实验装置和方法。
搜索关键词: 离子 质量 分析器 直流 电压 驱动 串级质 谱分析 方法
【主权项】:
 离子阱质量分析器中直流电压驱动的串级质谱分析方法,其特征在于依次包括离子选择隔离、碰撞诱导解离和质量扫描分析三个阶段;其中:所述离子选择隔离阶段,是将被选择的某一母体离子隔离出来,被隔离的离子在离子阱射频工作电压产生的电场作用下,通过与中性气体分子的碰撞冷却被束缚在离子阱中;所述射频工作电压信号为对称波形信号;所述碰撞诱导解离阶段,在离子阱质量分析器中,在离子阱的电极上施加射频工作电压;施加的射频工作电压为非对称波形,非对称波形的电压信号可以产生直流电压,母体离子在直流电场的作用下,获得能量被激发,偏离离子阱束缚离子中心地带,被激发的母体离子产生高速运动,与离子阱中的中性分子发生碰撞并解离,产生碎片离子,碎片离子在离子阱中经过冷却后被束缚;所述质量扫描分析阶段,当离子经碰撞诱导解离过程后, 对射频工作电压信号从高频往低频进行线性扫描,射频工作电压信号波形为对称波形,同时在扫描过程中施加偶极激发电压信号,碎片离子在偶极激发电压的作用下,发生共振激发弹出,最终从离子引出电极的引出孔或引出槽中被逐出,被安置在离子阱外的离子探测器检测获得离子的质谱信号。
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