[发明专利]一种干涉光谱成像仪相位误差修正方法及装置有效
| 申请号： | 201410648156.0 | 申请日： | 2014-11-15 |
| 公开（公告）号： | CN104316188B | 公开（公告）日： | 2017-09-26 |
| 发明（设计）人： | 景娟娟;吕群波;相里斌;周锦松 | 申请（专利权）人： | 中国科学院光电研究院 |
| 主分类号： | G01J3/45 | 分类号： | G01J3/45 |
| 代理公司： | 北京凯特来知识产权代理有限公司11260 | 代理人： | 郑立明,郑哲 |
| 地址： | 100080 *** | 国省代码： | 北京;11 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明公开了一种干涉光谱成像仪相位误差修正方法及装置，其中，干涉光谱成像仪相位误差修正方法包括对干涉光谱成像仪获取的干涉图的小双边部分进行IFFT快速傅立叶逆变换得到相位因子，以及对所述相位因子进行FFT快速傅立叶变换得到对称化函数；将所述干涉图与所述对称化函数进行卷积处理得到卷积干涉图；对所述卷积干涉图进行IFFT得到复原光谱函数，以及对所述卷积干涉图的小双边部分进行IFFT得到相位误差因子；根据所述相位误差因子对所述复原光谱函数进行修正，得到目标光谱函数。先在时域对干涉图进行修正，再在频域对光谱函数进行修正，提高复原光谱的精度，同时兼顾计算速度。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 干涉 光谱 成像 相位 误差 修正 方法 装置 | ||
【主权项】：
一种干涉光谱成像仪相位误差修正方法，其特征在于，包括：对干涉光谱成像仪获取的干涉图的小双边部分进行IFFT快速傅立叶逆变换得到相位因子，以及对所述相位因子进行FFT快速傅立叶变换得到对称化函数；将所述干涉图与所述对称化函数进行卷积处理得到卷积干涉图；对所述卷积干涉图进行IFFT得到复原光谱函数，以及对所述卷积干涉图的小双边部分进行IFFT得到相位误差因子；根据所述相位误差因子对所述复原光谱函数进行修正，得到目标光谱函数。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中国科学院光电研究院，未经中国科学院光电研究院许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201410648156.0/，转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇：触控板
- 下一篇：抑制捕获误判的方法、装置及微电网系统
