[发明专利]一种划分子孔径PFA雷达成像方法有效
申请号: | 201410652044.2 | 申请日: | 2014-11-17 |
公开(公告)号: | CN104391297B | 公开(公告)日: | 2017-09-15 |
发明(设计)人: | 张劲东;陈家瑞;班阳阳;唐笑为 | 申请(专利权)人: | 南京航空航天大学 |
主分类号: | G01S13/90 | 分类号: | G01S13/90 |
代理公司: | 南京瑞弘专利商标事务所(普通合伙)32249 | 代理人: | 杨晓玲 |
地址: | 210016 江*** | 国省代码: | 江苏;32 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本发明公开了一种划分子孔径PFA雷达成像方法,属于雷达成像技术领域。它将全孔径划分为若干子孔径,用PFA对子孔径处理得出方位向低分辨率图像,然后用PGA自聚焦处理消除子孔径图像运动误差,通过方位向升采样,再经过空变滤波和几何校正处理消除几何失真,随后将几何校正得到的所有子孔径图像有重叠的划分子块进行图像配准,最后将配准后的所有子孔径图像相干融合得到最终的SAR图像。本发明将大块的全孔径数据划分为小块的子孔径数据处理提高了成像处理效率;在实行子孔径图像配准时把图像有重叠的划分子块进行配准,这样既能更好实现整个图像的配准,又能在配准后实现子块的无缝隙拼接。 | ||
搜索关键词: | 一种 分子 孔径 pfa 雷达 成像 方法 | ||
【主权项】:
一种划分子孔径PFA成像雷达方法,其特征在于,包括如下步骤:首先将全孔径划分为若干子孔径,用PFA对子孔径处理得出方位向低分辨率图像,然后用PGA自聚焦处理消除子孔径图像运动误差,通过方位向升采样,再经过空变滤波和几何校正处理消除几何失真,随后将几何校正得到的所有子孔径图像有重叠的划分子块进行图像配准,最后将配准后的所有子孔径图像相干融合得到最终的SAR图像;将几何校正得到的所有子孔径图像有重叠的划分子块进行图像配准,包括如下具体步骤:将得到的每个子孔径SAR图像进行有重叠分割得Nx′×Ny′个子块,子块像素大小为Lx′×Ly′,Lx′=1024,Ly′=2048,方位与距离向重叠像素单元分别为ΔLx、ΔLy,Nx′为图像在方位向划分的块数,Ny′为图像在距离向划分的块数;取出每个子孔径SAR图像的第m个子块图像,对这N个子块图像进行图像配准;以第一个子孔径SAR图像中的子块为基准,与第i′个子孔径SAR图像中的子块做二维相关,i′=2,3,...,N;查找出相关后峰值位置,将峰值循环移位至中心位置,记录下方位向和距离向分别移动的单元数Δxi′和Δyi′;将第i′个子孔径SAR图像中的第m个子块方位向和距离向分别循环移动Δxi′和Δyi′单元数;重复上述步骤,遍历N个子孔径SAR图像;取出每个子孔径SAR图像第m个子块的中心部分(Lx′‑ΔLx)×(Ly′‑ΔLy),放回原子孔径图像的相应位置进行图像拼接;重复操作上述步骤,遍历Nx′×Ny′个子块,直至所有子块全部配准完。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于南京航空航天大学,未经南京航空航天大学许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201410652044.2/,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:一种移动终端室外定位装置和移动终端
- 下一篇:一种逆合成孔径雷达方位定标方法