[发明专利]一种基于盲区校正的多波束侧扫声呐斜距失真消除方法

摘要

本发明公开了一种基于盲区校正的多波束侧扫声呐斜距失真消除方法。包括以下几个步骤：读取侧扫声呐的图像信息、姿态信息中的距海底高度及斜距；计算侧扫声呐图像的水柱区斜距；计算当前分辨率；计算在当前分辨率下的盲区宽及水柱区宽；校正侧扫声呐图像的左右两部分像素点的空间坐标；绘制侧扫声呐图像。本发明将以往方法通常忽略掉的侧扫声纳盲区考虑到计算当中，使得图像斜距失真更准确地被校正，提高了显示精度。

主权项

一种基于盲区校正的多波束侧扫声呐斜距失真消除方法，其特征在于，包括以下几个步骤：步骤一：读取侧扫声呐的图像信息、姿态信息中的距海底高度Alt及斜距Slant；步骤二：计算侧扫声呐图像的水柱区斜距S_nadir，$S_{\mathrm{nadir}}=\sqrt{{\mathrm{Alt}}^2+D_{\mathrm{nadir}}^2},$其中，D为声呐的一侧盲区宽度；步骤三：根据当前采样点计算当前分辨率Resolu_cur，${\mathrm{Resolu}}_{\mathrm{cur}}=\frac{\mathrm{Samples}}{{\mathrm{Samples}}_{\max }}\×\mathrm{Resolu},$其中Samples为当前采样点数，Samples_max为最大采样点数，Resolu为初始图像分辨率；步骤四：计算侧扫声呐图像在当前分辨率Resolu_cur下的盲区宽Nadir及水柱区宽wacol；$\mathrm{Nadir}=\frac{{\mathrm{Sam}}_{\mathrm{nadir}}}{{\mathrm{Sample}}_{\max }}\×{\mathrm{Resolu}}_{\mathrm{cur}}$$\mathrm{wacol}=\frac{S_{\mathrm{nadir}}}{\mathrm{Slant}}\×{\mathrm{Resolu}}_{\mathrm{cur}}$其中Sam_nadir为最大采样点下的盲区采样数，Sample_max为最大采样点数，Resolu_cur为当前分辨率，Slant为侧扫声呐斜距；步骤五：根据当前分辨率Resolu_cur下的盲区宽Nadir及水柱区宽wacol，校正侧扫声呐图像的左右两部分像素点的空间坐标；侧扫声呐图像的左部分像素点校正后的空间坐标(x₂₁,y₂₁)为：$\left\{\begin{array}{c}{x}_{21}=\sqrt{{\mathrm{Alt}}^2+{x_{11}}^2}-\mathrm{wacol}+\mathrm{Nadir}\\ y_{21}=y_{11}\end{array}\right.$侧扫声呐图像的右部分像素点校正后的空间坐标(x₂₂,y₂₂)为：$\left\{\begin{array}{c}{x}_{22}=\sqrt{{\mathrm{Alt}}^2+{x_{12}}^2}+\mathrm{wacol}+\mathrm{Nadir}\\ y_{22}=y_{12}\end{array}\right.$(x₁₁,y₁₁)为未校正侧扫声呐图像的左部分像素点空间坐标，(x₁₂,y₁₂)为未校正侧扫声呐图像的右部分像素点空间坐标；步骤六：根据校正后的侧扫声呐图像的左右两部分像素点的空间坐标，绘制侧扫声呐图像。