[发明专利]一种可用于高温三维测量的装置及其测量方法在审

专利信息
申请号: 201410653564.5 申请日: 2014-11-17
公开(公告)号: CN104316202A 公开(公告)日: 2015-01-28
发明(设计)人: 蒋文波;谢勇;卜云;张晓华 申请(专利权)人: 西华大学
主分类号: G01J5/20 分类号: G01J5/20
代理公司: 北京方圆嘉禾知识产权代理有限公司 11385 代理人: 董芙蓉
地址: 610039 四川*** 国省代码: 四川;51
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摘要: 发明公开了一种可用于高温三维测量的装置及其测量方法,包括装置硬件部分和测量方法两大块。其中,所述的可用于高温三维测量的装置的硬件部分包括:数据采集模块、数值模拟模块、数据存储和显示模块三大部分;其中,数据采集模块是本装置的核心部分,主要由三维待测场、两个衰减片、两个分光镜、四个滤光片、四个CCD和图像采集卡组成。本发明降低了实验系统的复杂性;仅需90°范围内的数据即可三维重建,更适合于测试条件有限(如:含有遮挡物、观察角有限)的实际工业环境;给出了具体实施例和测量结果,为航空航天、激波风洞等特殊领域的高温三维测量奠定了理论和实验基础。
搜索关键词: 一种 用于 高温 三维 测量 装置 及其 测量方法
【主权项】:
一种可用于高温三维测量的装置及其测量方法,包括装置硬件部分和测量方法两大块;其中,所述的可用于高温三维测量的装置的硬件部分包括:数据采集模块、数值模拟模块、数据存储和显示模块三大部分;其中数据采集模块负责采集三维待测场的发射光谱图像,数值模拟模块负责对采集到的图像信息进行预处理并三维重建,数据存储和显示模块负责对外输出重建后的数据和图像;其特点是:所述的数据采集模块是本装置的核心部分,主要由三维待测场、两个衰减片、两个分光镜、四个滤光片、四个CCD和图像采集卡组成;为避免环境光或其他因素对测试结果的影响,所有光学元件都被密封在一个精密机械加工的套筒中,并将内壁镀上膜层;其中,斜面上镀分光膜,四个直角通光表面镀宽带多层增透膜,从而提高测量精度。
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