[发明专利]一种可用于测试CMC芯片电磁兼容辐射特性的测试系统在审
| 申请号： | 201410653648.9 | 申请日： | 2014-11-17 |
| 公开（公告）号： | CN105891620A | 公开（公告）日： | 2016-08-24 |
| 发明（设计）人： | 刘敏;闫晓风;刘丹;谢淑芬;赵艳领 | 申请（专利权）人： | 机械工业仪器仪表综合技术经济研究所 |
| 主分类号： | G01R31/00 | 分类号： | G01R31/00 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 100055 北京*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种可用于测试CMC芯片电磁兼容辐射特性的测试系统，该系统包括：测试电路板，电流探头，阻抗转换网络以及放大器和频谱仪，其特征在于，该系统的测试对象为CMC芯片，通过测试射频电流和射频电压，进而得出芯片整体的辐射特性，测试系统的频率范围为150kHz‑1GHz，测试系统构建方便简单，系统设计轻便。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 用于 测试 cmc 芯片 电磁 兼容 辐射 特性 系统 | ||
【主权项】：
一种可用于测试CMC芯片电磁兼容辐射特性的测试系统，该系统包括：供电电源、测试电路板，射频电流探头，阻抗匹配网络以及放大器和频谱分析仪，其特征在于，该测试系统的测试对象为CMC芯片，通过测试射频电流和射频电压，进而得出芯片整体的辐射特性，测试系统的频率范围为150kHz‑1GHz。
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