[发明专利]自动温度控制批量晶体频率特性测试系统有效
| 申请号： | 201410653751.3 | 申请日： | 2014-11-18 |
| 公开（公告）号： | CN104459311A | 公开（公告）日： | 2015-03-25 |
| 发明（设计）人： | 不公告发明人 | 申请（专利权）人： | 北京七芯中创科技有限公司 |
| 主分类号： | G01R23/02 | 分类号： | G01R23/02 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 100029 北京市朝*** | 国省代码： | 北京;11 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明涉及采用自动控制温度环境进行批量晶体频率特性测试的系统。该系统包括：1.为晶体提供驱动的电路模块。2.进行晶体驱动和输出选择的通道控制模块。3.管理驱动电路模块和通道控制模块控制并负责通信的子板。4.电路系统控制母板。5.运行于中央控制器上的控制软件。6.温度可程序控制的温箱。7.晶体适配器。8.频率计。本发明可以实现在不同温度下，批量自动测试晶体的频率特性，系统结构灵活，测试速度快，大幅提供晶体测试效率，降低成本。 | ||
| 搜索关键词： | 自动 温度 控制 批量 晶体 频率特性 测试 系统 | ||
【主权项】：
自动温度控制批量晶体频率特性测试系统根据测试要求控制温箱温度，并行测试大量晶体的频率特性。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于北京七芯中创科技有限公司，未经北京七芯中创科技有限公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201410653751.3/，转载请声明来源钻瓜专利网。
