[发明专利]一种固体介质材料微波特性参数测量系统及方法有效
| 申请号： | 201410659470.9 | 申请日： | 2014-11-18 |
| 公开（公告）号： | CN104316544A | 公开（公告）日： | 2015-01-28 |
| 发明（设计）人： | 蔡青;石雷兵;陆福敏;王炜;王莉萍;吴佳欢 | 申请（专利权）人： | 上海市计量测试技术研究院 |
| 主分类号： | G01N22/00 | 分类号： | G01N22/00 |
| 代理公司： | 上海汉声知识产权代理有限公司 31236 | 代理人： | 胡晶 |
| 地址： | 200040 *** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明提供了一种固体介质材料微波特性参数测量的系统和方法，该方法利用传输/反射法建立测量模型，并通过两次设置变量简化了传输/反射法的求解过程。系统采用了同轴线传输与波导线传输相结合的方式，实现了在30MHz~50GHz的宽频段范围内对被测介质的电磁参数进行测量的目的。而在测量过程中对波导夹具进行调整，避免了测量被测介质时出现的厚度谐振问题。综上所述，本发明的系统和方法测量电磁参数过程简单，易于通过计算机等辅助设备求解，且测量范围较宽，求解更精确，也避免了厚度谐振问题的出现。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 固体 介质 材料 微波 特性 参数 测量 系统 方法 | ||
【主权项】：
一种固体介质材料微波特性参数测量方法，其特征在于，包括以下步骤： S1：建立固体材料微波特性的二端口网络测量模型； S2：对所述二端口网络测量模型进行调整，以避免被测介质出现厚度谐振； S3：对调整后的二端口网络的参数S11和S21进行测量； S4：根据测量得到的S11和S21求解介质材料的微波特性参数； 其中：所述步骤S3具体包括： S31：使用传输反射法在30MHz～18GHz频段采用同轴线传输；测量在30MHz～18GHz频段范围内的S11和S21； S32：使用传输反射法在18GHz～26.5GHz、26.5GHz～40GHz、40GHz～50GHz频段采用波导传输，并测量在18GHz～26.5GHz、26.5GHz～40GHz、40GHz～50GHz频段范围内的S11和S21。
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