[发明专利]一种射频阵列天线校准装置有效

专利信息
申请号: 201410659840.9 申请日: 2014-11-19
公开(公告)号: CN105676226B 公开(公告)日: 2018-10-16
发明(设计)人: 胡敬春;刘栗;王先腾;丁军;刘平;张宇;王立权;赵瑜晖 申请(专利权)人: 上海机电工程研究所
主分类号: G01S17/08 分类号: G01S17/08;G01C15/00
代理公司: 上海航天局专利中心 31107 代理人: 徐钫
地址: 201109 *** 国省代码: 上海;31
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摘要: 一种射频阵列天线校准装置,包括射频辐射信号接收设备,所述射频辐射信号接收设备包括接收天线,所述天线校准装置还包括与被校准辐射天线极化方式相垂直的标准天线,在所述射频辐射信号接收设备上安装激光测距组件,所述激光测距组件包括激光发射源,薄膜和能够反射激光和透射射频信号的薄膜涂层,在被校准的射频阵列天线的口面处包有所述薄膜,在被校准的射频阵列天线中心区域覆盖所述薄膜涂层。该发明能解决现有技术中测距模糊的问题,达到提高测距精确度,更可靠测量和调试结果的有益效果。
搜索关键词: 一种 射频 阵列 天线 校准 装置
【主权项】:
1.一种射频阵列天线校准装置,包括射频辐射信号接收设备,所述射频辐射信号接收设备包括接收天线,所述天线校准装置还包括与被校准辐射天线极化方式相垂直的标准天线,其特征在于在所述射频辐射信号接收设备上安装激光测距组件,所述激光测距组件包括激光发射源,薄膜和能够反射激光和透射射频信号的薄膜涂层,在被校准的射频阵列天线的口面处包有所述薄膜,在被校准的射频阵列天线中心区域覆盖所述薄膜涂层;在进行测距时,激光测距装置发射的激光信号在达到薄膜涂层后,经过反射回到测距装置,获取辐射天线口面处与回转中心间的距离,在使用射频信号进行比相测距之前,把每一个天线到回转中心间的距离都调整到一个波长范围内,然后进行射频测距,可以解决测距模糊的问题;在进行天线的极化方向校准过程中,射频测试设备上安置的五个激光发射源同时打开,在辐射天线上照射到的这五个亮点可以确定垂直和水平两个方向的参考测量线,与天线的四片脊片进行位置上的比较,可以基本确定天线的极化方向是否符合要求,然后再使用射频测量方法来进行测量,这样可以获得更可靠的测量和调试结果。
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