[发明专利]射频发射型的检测电路在审

专利信息
申请号: 201410661240.6 申请日: 2014-11-19
公开(公告)号: CN104459377A 公开(公告)日: 2015-03-25
发明(设计)人: 杨勇 申请(专利权)人: 成都嵌智捷科技有限公司
主分类号: G01R31/00 分类号: G01R31/00;G01R31/40;G01R1/36
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 610000 四川*** 国省代码: 四川;51
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摘要: 发明公开了射频发射型的检测电路,包括插座、比较器A1、比较器A、二极管D1、发光二极管D3、保险丝B、单刀双掷开关S、电阻R2、电阻R3、与门B、射频芯片CC1101、电容C2和充电电容C3,所述插座、二极管D1、电阻R2、单刀双掷开关S的a端、单刀双掷开关S的b端、电阻R3和发光二极管D3依次连接,其中的发光二极管D3接地;所述插座还连接电阻R1,电阻R1还连接比较器A1的同向输入端,比较器A1的反向输入端连接二极管D1的负极,比较器A1的输出端连接与门B的一条输入端,与门B的另一条输入端接地,与门B的输出端连接射频芯片CC1101,射频芯片CC1101还连接天线。本发明通过上述原理,能够通过射频发射信号知道供电电源是否用完或者是电路是否出现过流现象,使用更方便。
搜索关键词: 射频 发射 检测 电路
【主权项】:
射频发射型的检测电路,其特征在于:包括插座、比较器A1、比较器A、二极管D1、发光二极管D3、保险丝B、单刀双掷开关S、电阻R2、电阻R3、与门B、射频芯片CC1101、电容C2和充电电容C3,所述插座、二极管D1、电阻R2、单刀双掷开关S的a端、单刀双掷开关S的b端、电阻R3和发光二极管D3依次连接,其中的发光二极管D3接地;所述插座还连接电阻R1,电阻R1还连接比较器A1的同向输入端,比较器A1的反向输入端连接二极管D1的负极,比较器A1的输出端连接与门B的一条输入端,与门B的另一条输入端接地,与门B的输出端连接射频芯片CC1101,射频芯片CC1101还连接天线;所述电阻R1和二极管D1的公共端还依次连接比较器A的反向输入端和单刀双掷开关S的c端;所述电阻R3和单刀双掷开关S的b端的公共端还连接下拉电容C2和下拉充电电容C3;所述比较器A的同向输入端接地,比较器A的输出端与单刀双掷开关S的c端连接。
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