[发明专利]一种带雪崩击穿特性的GaN基肖特基二极管的封装结构在审

专利信息
申请号: 201410661987.1 申请日: 2014-11-19
公开(公告)号: CN104362145A 公开(公告)日: 2015-02-18
发明(设计)人: 何志;谢刚 申请(专利权)人: 佛山芯光半导体有限公司
主分类号: H01L25/18 分类号: H01L25/18;H01L29/872
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 528226 广东省佛山市南海区狮山镇*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 发明公开了一种带雪崩特性的GaN基肖特基二极管器件的封装结构。器件包括两个反向额定电压相同的GaN基肖特基二极管与Si基二极管,通过将Si基二极管直接焊接到GaN基肖特基二极管的阴极上,并通过引线连接两种管子的阳极,形成并联结构。使得器件在反向工作时,当反向耐压超过器件的反向额定电压时,通过Si基二极管的雪崩击穿效应,固定反向电压,并且通过Si基二极管的雪崩效应产生雪崩电流,反馈给保护电路。从而保护器件本身以及整个电路系统,增强器件和电路的安全性与稳定性。
搜索关键词: 一种 雪崩 击穿 特性 gan 基肖特基 二极管 封装 结构
【主权项】:
一种带雪崩击穿特性的GaN基肖特基二极管的封装结构,包括反向耐压大于或者等于设计所需反向额定电压的GaN基肖特基二极管,反向额定电压等于设计要求反向额定电压的垂直结构的Si基二极管,所述GaN基肖特基二极管衬底焊接到封装材料的绝缘基板上,所述Si基二极管的阴极直接焊接到GaN基二极管的阴极上,所述Si基二极管的阳极通过金属引线与GaN基肖特基二极管的阳极相连,通过引线引出整个模块的阳极与阴极。
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