[发明专利]基于单色光自准直仪二次准直原理的劈角测量方法有效
| 申请号： | 201410672006.3 | 申请日： | 2014-11-20 |
| 公开（公告）号： | CN104501742A | 公开（公告）日： | 2015-04-08 |
| 发明（设计）人： | 叶朗;徐旭;熊召;李奇;周海;曹庭分;张亮;贺群 | 申请（专利权）人： | 中国工程物理研究院激光聚变研究中心 |
| 主分类号： | G01B11/26 | 分类号： | G01B11/26 |
| 代理公司： | 重庆为信知识产权代理事务所(普通合伙)50216 | 代理人： | 龙玉洪 |
| 地址： | 400023*** | 国省代码： | 重庆;85 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明公开了一种基于单色光自准直仪二次准直原理的劈角测量方法，首先利用单色光自准直仪对待测劈板前表面进行自准直，测得此时待测劈板后表面反射像与前表面反射像夹角；然后利用单色光自准直仪对待测劈板后表面进行自准直，测得此时待测劈板后表面反射像与前表面反射像夹角；最后基于反射、折射定律，得出劈板劈角计算公式并将两次测量结果联立二元一次方程组，解出劈板劈角。其显著效果是：本发明基于光学自准直、折射、反射定律的基本光学原理，测量精度高，成本低，操作简单，具有很高的通用性与实用性；通过本方法不仅能准确测出待测劈板劈角，还能测出待测劈板材料对于自准直仪光源的折射率。 | ||
| 搜索关键词： | 基于 单色光 准直仪 二次 原理 测量方法 | ||
【主权项】：
一种基于单色光自准直仪二次准直原理的劈角测量方法，其特征在于按照以下步骤进行：步骤1：采用单色光自准直仪射出光线至待测劈板前表面，调整单色光自准直仪的姿态，使得待测劈板前表面反射回的叉丝像与单色光自准直仪的自身固有叉丝重合，测得此时劈板后表面反射像与前表面反射像的夹角为α；步骤2：采用单色光自准直仪射出光线至待测劈板前表面，调整单色光自准直仪的姿态，使得待测劈板后表面反射回的叉丝像与单色光自准直仪的自身固有叉丝重合，测得此时劈板后表面反射像与前表面反射像的夹角为β；步骤3：将α与β的数值按照θ＝arcos(sin2α/(2sinβ))计算得出劈板劈角θ。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中国工程物理研究院激光聚变研究中心;，未经中国工程物理研究院激光聚变研究中心;许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201410672006.3/，转载请声明来源钻瓜专利网。
