[发明专利]一种辉光放电质谱仪分析试样的制备方法在审

专利信息
申请号: 201410674371.8 申请日: 2014-11-23
公开(公告)号: CN104458370A 公开(公告)日: 2015-03-25
发明(设计)人: 王传军;李艳琼;谭志龙;张俊敏;闻明;毕珺;沈月;管伟明 申请(专利权)人: 昆明贵金属研究所
主分类号: G01N1/28 分类号: G01N1/28;G01N27/68
代理公司: 昆明今威专利商标代理有限公司 53115 代理人: 赛晓刚
地址: 650106 云南省*** 国省代码: 云南;53
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摘要: 发明公开了一种辉光放电质谱仪分析试样的制备方法,其包括如下步骤:a)将需要分析的难熔金属粉末放置于内部涂有脱模剂的石墨模具中;b)使用加压烧结的方法对粉末进行成型;c)对成型的坯料进行车削。使用本发明的分析方法:在尽可能保持本身杂质含量的同时,具有较高的致密度,同时表面洁净,从而保证辉光放电质谱分析结果的准确性和精确度,同时本制备方法制备的样品还有分析速度快,效率高的优点。
搜索关键词: 一种 辉光 放电 质谱仪 分析 试样 制备 方法
【主权项】:
一种辉光放电质谱仪分析试样的制备方法,其特征在于,包括以下步骤:a)将需要分析的粉末放置于内壁涂有脱模剂的石墨模具中;b)使用加压烧结的方法对所述粉末进行成型;c)对成型的料坯进行表面车削;d)所述的料坯进行清洗干燥。
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