[发明专利]利用FOM获取中子单粒子效应器件敏感截面的方法及装置有效
| 申请号： | 201410676788.8 | 申请日： | 2014-11-21 |
| 公开（公告）号： | CN105676102B | 公开（公告）日： | 2019-01-25 |
| 发明（设计）人： | 王群勇;陈冬梅;阳辉 | 申请（专利权）人： | 北京圣涛平试验工程技术研究院有限责任公司 |
| 主分类号： | G01R31/265 | 分类号： | G01R31/265 |
| 代理公司： | 北京路浩知识产权代理有限公司 11002 | 代理人： | 李相雨 |
| 地址： | 100089 北京市海淀*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明提供了一种利用FOM获取中子单粒子效应器件敏感截面的方法及装置，包括：采用预定辐射源进行地面模拟实验，获取敏感器件敏感截面的观测值σ观测，并监测实验中敏感器件的单粒子效应错误个数Nend；将采用FOM方法计算得出的敏感器件敏感截面值σFOM与敏感器件敏感截面的观测值σ观测进行除运算，得到第一辅助因子；将采用Rosetta真实环境试验获得的敏感器件敏感截面值σRosetta与敏感器件敏感截面的观测值σ观测进行除运算，得到第二辅助因子；根据第一辅助因子、第二辅助因子计算以及单粒子效应错误个数计算修正因子的值；利用修正因子对敏感器件敏感截面的观测值σ预设进行修正。本发明能够获得真实环境下大气中子单粒子效应敏感器件的敏感截面，为机载电子设备的防护与评价提供重要依据。 | ||
| 搜索关键词： | 利用 fom 获取 中子 粒子 效应 器件 敏感 截面 方法 装置 | ||
【主权项】：
1.一种利用FOM获取中子单粒子效应器件敏感截面的方法，其特征在于，包括：采用预定辐射源进行地面模拟实验，获取在预定辐射源辐射下敏感器件敏感截面的观测值σ观测，并监测所述模拟实验中敏感器件的单粒子效应错误个数Nend；将采用FOM方法计算得出的敏感器件敏感截面值σFOM与所述在预定辐射源辐射下敏感器件敏感截面的观测值σ观测进行除运算，得到第一辅助因子；将采用Rosetta真实环境试验获得的敏感器件敏感截面值σRosetta与所述在预定辐射源辐射下敏感器件敏感截面的观测值σ观测进行除运算，得到第二辅助因子；根据所述第一辅助因子、第二辅助因子以及所述单粒子效应错误个数计算修正因子的值，具体包括：根据敏感截面的测量精度计算模型计算精度因子a；计算所述第一辅助因子和第二辅助因子计算的比值，得到加速因子Aβ；根据所述加速因子Aβ、精度因子a以及所述单粒子效应错误个数计算修正因子A，公式如下：![]()
根据所述修正因子的值对所述在预定辐射源辐射下敏感器件敏感截面的观测值σ观测进行修正，具体为：计算所述修正因子与所述在预定辐射源辐射下敏感器件敏感截面的观测值σ观测的乘积，得到大气中子单粒子效应敏感器件的敏感截面σ0，公式如下：σ0＝σ观测×A。
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