[发明专利]获取大气中子单粒子效应敏感器件敏感截面的方法及装置有效
| 申请号： | 201410677679.8 | 申请日： | 2014-11-21 |
| 公开（公告）号： | CN105676103B | 公开（公告）日： | 2018-08-31 |
| 发明（设计）人： | 王群勇;陈冬梅;阳辉 | 申请（专利权）人： | 北京圣涛平试验工程技术研究院有限责任公司 |
| 主分类号： | G01R31/265 | 分类号： | G01R31/265 |
| 代理公司： | 北京路浩知识产权代理有限公司 11002 | 代理人： | 李相雨 |
| 地址： | 100089 北京市海淀*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明提供了一种获取大气中子单粒子效应敏感器件敏感截面的方法及装置，包括：采用预定辐射源进行地面模拟实验，获取在预定辐射源辐射下敏感器件敏感截面的观测值σ观测，并监测所述模拟实验中敏感器件的单粒子效应错误个数Nend；根据所述单粒子效应错误个数Nend以及预设的敏感截面的测量精度要求，计算随机误差的值ε；根据所述模拟实验中预定辐射源的系统误差A0以及所述随机误差的值ε计算修正因子的值A；根据所述修正因子的值A对所述在预定辐射源辐射下敏感器件敏感截面的观测值σ观测进行修正。本发明能够获得真实环境下大气中子单粒子效应敏感器件的敏感截面，为机载电子设备的防护与评价提供重要依据。 | ||
| 搜索关键词： | 获取 大气 中子 粒子 效应 敏感 器件 截面 方法 装置 | ||
【主权项】：
1.一种获取大气中子单粒子效应敏感器件敏感截面的方法，其特征在于，包括：采用预定辐射源进行地面模拟实验，获取在预定辐射源辐射下敏感器件敏感截面的观测值σ观测，并监测所述模拟实验中敏感器件的单粒子效应错误个数Nend；根据所述单粒子效应错误个数Nend以及预设的敏感截面的测量精度要求，计算随机误差的值ε，具体包括：根据敏感截面的测量精度计算模型计算精度因子a；根据所述精度因子a以及所述单粒子效应错误个数Nend计算随机误差的值ε，公式如下：![]()
根据所述模拟实验中预定辐射源的系统误差A0以及所述随机误差的值ε计算修正因子的值A，具体公式如下：A＝A0±ε；根据所述修正因子的值A对所述在预定辐射源辐射下敏感器件敏感截面的观测值σ观测进行修正，具体包括：计算所述修正因子A与所述在预定辐射源辐射下敏感器件敏感截面的观测值σ观测的乘积，得到大气中子单粒子效应敏感器件的敏感截面σ0，公式如下：σ0＝σ观测×A。
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