[发明专利]一种测量冲击的探头有效

专利信息
申请号: 201410678277.X 申请日: 2014-11-24
公开(公告)号: CN104458089A 公开(公告)日: 2015-03-25
发明(设计)人: 季振国;李鹤;沈冬冬 申请(专利权)人: 杭州电子科技大学
主分类号: G01L5/00 分类号: G01L5/00
代理公司: 杭州求是专利事务所有限公司 33200 代理人: 杜军
地址: 310018 浙*** 国省代码: 浙江;33
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摘要: 发明公开了一种测量冲击的探头。本发明的探头主体内活动设置冲击传导件,探头主体两端分别固定上盖帽和下盖帽,探头主体内设置有力致发光片、雪崩二极管和背景光二极管,冲击传导件的一端伸出上盖帽,另一端的球面与雪崩二极管接触,力致发光片为Al2SrO4(Dy,Eu)长余辉发光材料的片材,或石英基板上镀Al2SrO4(Dy,Eu)长余辉发光材料膜。当有冲击力传递到冲击传导件时,力致发光片因受冲击力而发光,发出的光由雪崩二极管接收放大,输出与冲击强度对应的电流信号。本发明的冲击力传感器具有结构简单、稳定性好、抗电磁干扰能力强、力-光转换部分无需电源,特别适合在电磁脉冲干扰严重的环境中使用。
搜索关键词: 一种 测量 冲击 探头
【主权项】:
一种测量冲击的探头,包括探头主体、上盖帽、下盖帽、冲击传导件、力致发光片、背景光二极管、雪崩二极管,其特征在于:所述的探头主体为圆柱体,上部外侧壁攻有螺纹;探头主体沿轴心开有冲击传导孔和检测孔,冲击传导孔和检测孔连通后贯穿探头主体的两个端面,检测孔的内径大于传导孔的内径,检测孔的侧壁攻有螺纹;所述的上盖帽为一端开放的筒体,上盖帽与探头主体的上部螺纹连接,探头主体的顶面与上盖帽底面之间形成冲击传导腔;上盖帽的底部中心开有检测头伸出孔;所述的下盖帽的中心开有雪崩二极管安装孔,雪崩二极管设置在雪崩二极管安装孔内,其检测线伸出下盖帽外;下盖帽与探头主体的下部螺纹连接,检测孔被下盖帽部分封闭后剩余的部分作为力致发光片安装腔,力致发光片设置在力致发光片安装腔内;力致发光片安装腔通过背景光二极管安装孔与探头主体外相通,背景光二极管设置在背景光二极管安装孔内,并对着力致发光片设置,其引线伸出探头主体外;所述的冲击传导件依次包括位于同一轴线的检测头、定位座和顶杆,检测头和定位座均为圆柱体,检测头的直径小于定位座的直径,顶杆的一端与定位座相接,另一端的端面为球面;冲击传导件的定位座置于冲击传导腔内,顶杆置于冲击传导孔内,检测头置于检测头伸出孔内,检测头部分伸出检测头伸出孔;定位座与上盖帽底面之间设置有复位弹簧;顶杆的球面端面与力致发光片接触;所述的力致发光片为Al2SrO4 (Dy,Eu)长余辉发光材料的片材,或石英基板上镀Al2SrO4 (Dy,Eu)长余辉发光材料膜;所述的背景光二极管为发射波长为的发光二极管。
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