[发明专利]一种回复反射测量装置有效

专利信息
申请号: 201410679212.7 申请日: 2014-11-24
公开(公告)号: CN104359866B 公开(公告)日: 2017-11-21
发明(设计)人: 潘建根 申请(专利权)人: 杭州远方光电信息股份有限公司
主分类号: G01N21/55 分类号: G01N21/55
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 310053 浙*** 国省代码: 浙江;33
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摘要: 发明公开了一种回复反射测量装置,采用一个或者以上包括光阑和带孔反射镜的采样装置,以及与采样装置数量相对应的一个或者以上测量装置,一次测量即可同时实现了多个不同观测角下回复反射特性的测量,通过灵活选择光阑和带孔反射镜的尺寸,可适用于各种观测角且测量环带大小的准确可调;无需其他中间装置,实现的环带光信号无缺失,提高测量准确度;同时还可灵活配置各种滤色片、监测装置等,实现多样化的测量功能,具有测量速度快、准确度高、体积小、适用范围广、功能强大和设计一体化等特点,可广泛应用于实验室、工业产线以及现场快速测量等各种场合。
搜索关键词: 一种 回复 反射 测量 装置
【主权项】:
一种回复反射测量装置,其特征在于,包括光源(1)、一组或者以上实现不同测量环带的采样装置(2)、以及与采样装置(2)数量相对应的一个或者以上测量装置(3),所述的采样装置(2)由带孔反射镜(21)和光阑(22)组成,其中带孔反射镜(21)反射大于测量环带内径的光线,光阑(22)截止大于测量环带外径的光线,所述的带孔反射镜(21)和光阑(22)组合构成测量环带;光源(1)发出的光线以一定照射角入射到被测样品(4)上,被测样品(4)的回复反射光线经带孔反射镜(21)和光阑(22)后形成满足观测角条件的环带光信号、被相应的测量装置(3)接收,所述的测量装置(3)为光度探测器或光谱辐射计。
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