[发明专利]薄膜晶体管阵列基板及液晶显示装置

摘要

本发明提供一种薄膜晶体管阵列基板及液晶显示装置。薄膜晶体管阵列基板包括显示区域及围绕显示区域设置的边框区域，显示区域内设置呈阵列状分布的多个薄膜晶体管及多个数据线，在边框区域形成第一测试图案、第二测试图案及第三测试图案，相邻的测试图案之间的距离大于两条数据线之间的距离，每个测试图案包括光阻及两个测试线，每个测试图案中的光阻及两个测试线分别与显示区域中相应颜色的光阻与数据线的尺寸位置关系相对应，通过测相应测试图案中的光阻超出相应测试线的宽度，以得到显示区域内相邻的两个相应颜色的光阻之间的重叠区域。本发明能够测出显示区域内相邻的两个相应颜色光阻之间的重叠区域。

主权项

一种薄膜晶体管阵列基板，其特征在于，所述薄膜晶体管阵列基板包括显示区域及围绕所述显示区域设置的边框区域，所述显示区域内设置呈阵列状分布的多个薄膜晶体管及多个数据线，在所述边框区域形成第一测试图案、第二测试图案及第三测试图案，所述第一测试图案与所述第二测试图案之间的距离以及所述第二测试图案与所述第三测试图案之间的距离大于所述显示区域内相邻的两条数据线之间的距离，所述第一测试图案包括第一测量线、第二测量线及第一光阻，所述第一测量线及所述第二测量线分别与所述显示区域内两条相邻的数据线相对应，所述第一光阻覆盖所述第一测量线及所述第二测量线，且所述第一光阻的尺寸与所述显示区域内第一颜色光阻的尺寸相对应；所述第二测试图案包括第三测量线、第四测量线及第二光阻，所述第三测量线邻近所述第二测量线设置，所述第三测量线及所述第四测量线分别与所述显示区域内两条相邻的数据线相对应，所述第二光阻覆盖所述第三测量线及所述第四测量线，且所述第二光阻的尺寸与所述显示区域内第二颜色光阻的尺寸相对应；所述第三测试图案包括第五测量线、第六测量线及第三光阻，所述第五测量线邻近所述第四测量线设置，且所述第五测量线及所述第六测量线分别与所述显示区域内两条相邻的数据线相对应，所述第三光阻覆盖所述第五测量线及所述第六测量线，且所述第三光阻的尺寸与所述显示区域内第三颜色光阻的尺寸相对应，所述第一光阻超出所述第二测量线的宽度为第一宽度，所述第二光阻超出所述第三测量线及所述第四测量线的宽度分别为第二宽度及第三宽度，所述第三光阻超出所述第五测量线的宽度为第四宽度，则所述显示区域内第一颜色光阻与所述第二颜色光阻之间重叠区域的宽度为所述第一宽度与所述第二宽度之和。