[发明专利]薄膜晶体管、显示装置及薄膜晶体管的制造方法有效

专利信息
申请号: 201410682972.3 申请日: 2014-11-24
公开(公告)号: CN104377247B 公开(公告)日: 2017-12-08
发明(设计)人: 黄秋平 申请(专利权)人: 深圳市华星光电技术有限公司
主分类号: H01L29/786 分类号: H01L29/786;H01L29/43;H01L21/336
代理公司: 广州三环专利商标代理有限公司44202 代理人: 郝传鑫,熊永强
地址: 518132 广东*** 国省代码: 广东;44
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 发明公开一种薄膜晶体管,包括基板、设于基板表面的栅极电极、层叠设置在所述栅极电极上的栅极保护层和半导体层、设于所述半导体层表面的刻蚀阻止层、源极金属和漏极金属,所述源极金属和所述漏极金属位于所述刻蚀阻止层的两侧。所述薄膜晶体管还包括遮光层、绝缘介质层和像素电极,所述遮光层层叠设于所述刻蚀阻止层上方,以防止光照射至所述半导体层,所述绝缘介质层覆盖所述源极金属、所述漏极金属及所述遮光层,像素电极设于绝缘介质层表面,且电连接至漏极金属。本发明能够避免光照射至半导体层,从而避免了由于光照的原因导致薄膜晶体管阀值波动,提高液晶面板的可靠性。本发明还提供一种显示装置和一种薄膜晶体管的制造方法。
搜索关键词: 薄膜晶体管 显示装置 制造 方法
【主权项】:
一种薄膜晶体管的制造方法,其特征在于,所述薄膜晶体管的制造方法包括:提供基板,并在所述基板上沉积栅极电极;在所述基板的设有所述栅极电极的表面沉积栅极保护层;在所述栅极保护层表面制作半导体层;在所述半导体层表面沉积刻蚀阻止层;在所述刻蚀阻止层表面制作遮光层,其中,所述遮光层为黑色负性光阻,通过对所述遮光层进行光刻工艺,在同道光刻工艺制程中实现所述刻蚀阻止层图形和所述遮光层图形的制作,所述光刻工艺为半色调或灰度的光刻工艺的掩膜设计,能够调整所述遮光层的厚度;沉积源极金属和漏极金属,所述源极金属和所述漏极金属位于所述半导体层表面,且分别位于所述刻蚀阻止层的两侧;沉积绝缘介质层,所述绝缘介质层覆盖所述源极金属、所述漏极金属及所述遮光层;及制作像素电极,所述像素电极设于所述绝缘介质层表面,且电连接至所述漏极金属。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于深圳市华星光电技术有限公司,未经深圳市华星光电技术有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201410682972.3/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top